基于機器視覺的LED芯片與激光光斑檢測方法.pdf

1、分類號：UDC：密級：學校代號：11845學號：2111301047廣東工業(yè)大學碩士學位論文(工學碩士)基于機器視覺的LED芯片與激光光斑檢測方法涂敘安指導教師姓名、職稱：昌文閣教援學科(專業(yè))或領域名稱：扭越遮讓厘理論學生所屬學院：扭電工程堂院論文答辯日期：2Q!魚生魚目摘要摘要LED技術是一種需要高端的工藝技術和工藝設備支撐的高科技技術，同時還需要高端設備來滿足LED產業(yè)的發(fā)展。目前工業(yè)生產、加工與檢測的高端設備中多與機器視覺進行配

2、合，利用機器視覺系統(tǒng)能夠快速檢測出產品缺陷和精確定位等優(yōu)勢，提高生產效率。在運用激光對LED芯片精密加工設備中，機器視覺主要用來定位檢測，提高設備的檢測和JJnq速率。本文就LED芯片激光加工設備中，運用機器視覺檢測LED芯片中出現(xiàn)排列不整齊的晶元和不合格的晶元，并輸出所檢測晶元的中心坐標，另外在激光加工前判斷激光光斑是否變異。圖像處理算法主要包括形狀匹配的精確定位，圓度計算方式的差異性對比，以及如何存儲所有晶元中心坐標方法和基于競選算

3、法計算圖像的多閾值算法。具體內容如下：①根據(jù)LED芯片檢測產品中出現(xiàn)的不良晶元情況及其晶元結構特征分析，選擇加工刀具；制定檢測與加工的流程，并研究視覺檢測所需要使用的圖像處理方法，對圖像處理的方法進行對比，確定一種可行的圖像處理算法。②通過分析LED芯片整個加工流程和加工要求，制定檢測算法流程圖順序，并且對不同類型的芯片檢測增加相應的算法預留空間。其中最為核心的是對每一個檢測晶元的中心坐標定位算法，通過對晶元本身特點的研究，決定采用形狀

4、匹配、金字塔搜索策略和最小二乘法計算匹配目標的亞像素形狀的中心坐標，以達到精定位，與求取晶元電極的最小外接矩的中心作為晶元中心點的坐標對比驗證。另外，對于獲得的所有晶元坐標，設計一個了快捷方便的存儲方式，為后續(xù)的激光加工提供坐標定位。③為檢測晶元缺陷設計了一個自動計算圖像閾值的算法。該算法采用競選算法作為快速搜索全局最優(yōu)閾值的基礎算法，其核心是將圖像的灰度直方圖分割成幾部分，對各部分直方圖高斯擬合得出新的分布函數(shù)，與原直方圖函數(shù)在解空間