手機(jī)電磁兼容測(cè)試技術(shù)研究.pdf

1、現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，電子設(shè)備的數(shù)量和種類(lèi)不斷增加，這就使得電子設(shè)備所處的電磁環(huán)境日益復(fù)雜。同時(shí)，電子器件的集成度越來(lái)越高，電子設(shè)備抗干擾能力下降。因此，確保電子設(shè)備在復(fù)雜的電磁環(huán)境中正常工作，減少相互之間的電磁干擾十分重要，這對(duì)手機(jī)等電子產(chǎn)品的電磁兼容性提出了很高的要求。任何電氣電子設(shè)備在投放市場(chǎng)之前，電磁兼容性測(cè)試必不可少。
　　本文首先介紹電磁兼容發(fā)展的背景，電磁兼容干擾的途徑、分類(lèi)，對(duì)測(cè)試場(chǎng)地、環(huán)境和設(shè)備要求等。然后針對(duì)手機(jī)

2、產(chǎn)品，本文從兩個(gè)方面檢測(cè)手機(jī)在使用過(guò)程中產(chǎn)生電磁輻射的指標(biāo)，一個(gè)方面是電磁騷擾，另一個(gè)方面是電磁抗擾度。另外，對(duì)手機(jī)產(chǎn)品工作過(guò)程中對(duì)公共電網(wǎng)的影響和使用過(guò)程中對(duì)其他設(shè)備或電力系統(tǒng)干擾的抵抗能力進(jìn)行了分析，闡述了通過(guò)半電波暗室測(cè)試法、全電波暗室測(cè)試法、峰值檢波法等方法來(lái)檢測(cè)手機(jī)的各項(xiàng)指標(biāo)，使其指標(biāo)符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)范和要求。
　　對(duì)于手機(jī)類(lèi)無(wú)線(xiàn)通訊產(chǎn)品，通過(guò)測(cè)試分析可以判定一款手機(jī)是否滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)和要求，判定在使用過(guò)程中產(chǎn)生的輻射指標(biāo)是否