基于DPN技術(shù)的納米點(diǎn)結(jié)構(gòu)調(diào)控研究.pdf

1、隨著納米生物學(xué)、納米電子學(xué)等學(xué)科領(lǐng)域的發(fā)展，利用原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM）作為加工工具進(jìn)行表面修飾的技術(shù)發(fā)展起來。蘸筆納米刻蝕技術(shù)（Dip-pen nanolithography，DPN）是在納米尺度進(jìn)行表面修飾的重要技術(shù)。自DPN技術(shù)誕生以來，學(xué)者們已經(jīng)將DPN技術(shù)應(yīng)用到了各種不同的領(lǐng)域，并從不同的角度去探究DPN的作用機(jī)理。目前為止，對于沉積的納米結(jié)構(gòu)的尺度大小及質(zhì)量等的調(diào)控研究卻少有人涉

2、獵。本文對納米點(diǎn)結(jié)構(gòu)成形的調(diào)控進(jìn)行了相關(guān)研究。
　　在流體力學(xué)的基礎(chǔ)上，綜合考慮表面張力和黏附力的影響，建立適合微觀流體流動的數(shù)學(xué)模型。利用該模型，對DPN的墨水流動過程進(jìn)行微米和納米尺度下的仿真研究，獲得了墨水在基底擴(kuò)散的半徑隨時(shí)間以及基底親水性的變化關(guān)系。
　　本文提出了不同于傳統(tǒng)直接蘸針法的探針運(yùn)動微調(diào)蘸針法。在日常濕度環(huán)境下，利用該方法進(jìn)行DPN技術(shù)構(gòu)建納米點(diǎn)的實(shí)驗(yàn)，成功地構(gòu)建了納米點(diǎn)結(jié)構(gòu)，提供了一種對環(huán)境條件要求并