基于游程編碼的測試向量壓縮方法研究.pdf

1、隨著集成電路制造工藝的不斷發(fā)展，SoC芯片上集成的晶體管越來越多，其功能也越來越強大，這給生產(chǎn)和生活帶來了很大的便利。隨著SoC集成度的增加測試數(shù)據(jù)量也隨之迅猛增加，這給自動測試設備ATE的存儲器帶來了巨大的壓力，同時也延長了測試時間，增加了測試成本。如何有效地壓縮測試數(shù)據(jù)已成為現(xiàn)在研究的一個熱點問題。本論文正是圍繞測試數(shù)據(jù)壓縮的問題展開了研究。
　　測試數(shù)據(jù)壓縮技術是SoC測試中的關鍵技術。本文介紹了測試數(shù)據(jù)壓縮技術中一些常用的

2、壓縮方法，重點介紹了游程編碼并對其特點進行了分析。由于游程編碼實現(xiàn)方法簡單，解壓電路硬件開銷小，很多改進的壓縮方法都是基于游程編碼的。本文針對游程編碼的特點提出了兩種改進的壓縮方案。
　　方案一利用向量之間差分的方法對測試數(shù)據(jù)進行壓縮。在以往的研究中雖然也有學者提出了差分的方法，但是并沒有給出具體的差分方案，差分效果并不明顯。本文在這里提出一種具體的差分方案：首先將測試向量按向量之間的相容性進行行排序，然后再按列填充無關位X，最后

3、對相鄰向量之間兩兩差分。經(jīng)過以上步驟對測試向量處理后，測試集中得到了大量的0，即增加了0游程的長度，適合用單一游程編碼的FDR編碼。
　　方案二利用重組測試向量的方法對測試數(shù)據(jù)進行壓縮。本文通過研究發(fā)現(xiàn)，在用雙游程編碼時，對于兩個長度的游程，如果設法增加長游程長度，同時縮短短游程長度，這樣也能提高壓縮率。為了利用這一特性本文定義了一種新的相容性重組測試向量。該方案假設把所有的測試向量按行排列組成一個矩陣，每一行代表一個測試向量，首