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文檔簡介
1、鎂合金許多優(yōu)良的性質使得它在近代發(fā)展迅速,且廣泛地應用于各項領域,但鎂化學性質非?;顫姟T诳諝庵猩傻腗gO薄膜疏松多孔,無法有效地阻滯進一步被氧化。鎂的標準電位相對于其它金屬結構材料最負,為-2.37V,在溶液中參與電化學腐蝕時導致鎂成為犧牲陽極而遭受腐蝕。耐腐蝕性差已經成為制約鎂合金發(fā)展的主要因素。
本文考察了在不同pH值和NaCl溶液中的電化學行為。結果顯示,pH為10.5、0.035%的NaCl溶液中鎂合金的腐蝕電流密
2、度最小,為4.436μA·cm-2。pH為3.5、3.5%NaCl溶液中的腐蝕電流密度最大,為84.34μA·cm-2。隨著pH值減小,NaCl濃度升高,AM60B-MM鎂合金腐蝕電位負移,陽極極化電流密度增大,容抗弧半徑減小。
采用高錳酸鹽、鉬酸鹽和植酸在AM60B-MM鎂合金表面進行化學轉化制膜。發(fā)現(xiàn)三種化學轉化成膜的AM60B-MM鎂合金降低了腐蝕電流密度,其中高錳酸鹽成膜后的腐蝕電流密度最低,為22.823μA·cm-
3、2。這說明成膜后容抗弧和低頻阻抗模值增大、相位角升高,形成了高電阻、低電容的屏蔽膜層,提高了鎂合金的電化學性能。
3.5%NaCl溶液中,三種化學轉化成膜AM60B-MM鎂合金的Mott-Schottky曲線測試結果,在-2.2~-0.9V電位區(qū)間內,M-S曲線的斜率增大,施主密度ND減小,平帶電位EFB負向移動,空間電荷層厚度增大,鎂合金的電化學性能得到提高。
3.5%NaCl溶液中的析氫實驗表明,成膜后AM60B
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