納米聚合物中空粒子制備多層防反射薄膜的研究.pdf_第1頁(yè)
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1、本研究采用納米聚合物中空粒子制備納米多孔防反射薄膜,以期在寬波長(zhǎng)范圍內(nèi)減少基質(zhì)表面的反射率,主要研究?jī)?nèi)容如下:
  一納米多孔防反射薄膜的設(shè)計(jì)根據(jù)光的干涉原理和CMT膜系設(shè)計(jì)原理,在350-2000nm的波長(zhǎng)范圍內(nèi)設(shè)計(jì)納米多孔防反射薄膜的結(jié)構(gòu)。結(jié)果發(fā)現(xiàn):當(dāng)薄膜結(jié)構(gòu)為四層時(shí),底層薄膜的折光指數(shù)為1.44,接近玻璃的折光指數(shù)(1.53),且所需的納米膠囊的核/殼為1∶25.6,幾乎為實(shí)心結(jié)構(gòu),已無(wú)存在必要,故本研究主要針對(duì)單層、雙層和

2、三層防反射薄膜。
  二納米聚合物膠囊的制備根據(jù)上述設(shè)計(jì)中對(duì)納米聚合物膠囊的要求,按照文獻(xiàn)[1]中的方法,采用RAFT細(xì)乳液界面交聯(lián)聚合法制備納米聚合物膠囊,用透射電鏡(TEM)觀察納米膠囊的結(jié)構(gòu)。
  三納米多孔防反射薄膜的制備采用上述納米聚合物膠囊,通過旋涂和高溫真空干燥,即可得到納米多孔防反射薄膜,用紫外-可見-近紅外分光光度計(jì)測(cè)試防反射薄膜的光學(xué)性能,用掃描電鏡(SEM)觀察薄膜的表面形貌和斷面形貌,并用橢偏儀對(duì)薄膜

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