SOI納米光波導的研究及其工藝制作.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、80年代后期,人們發(fā)現SOI 材料具有良好的導波特性,使得SOI 技術取得突破性進展,SOI 光波導具有極低的傳輸損耗,并且橫向器件載流子的時間利用率很高,使得以SOI 為基礎的無源光波導器件,集成光電探測器,以及光波導調制開關等光學器件飛速發(fā)展。Si的折射率(3.477)比SiO2(1.444)和空氣(1)的折射率要大很多,SOI 脊形光波導能將光場限制在折射率較高的芯層區(qū)域,在水平方向上對光的限制比較小,高階模能迅速衰減,從而實現單

2、模傳輸。
   本文通過對光波導的研究,對工藝制作參數的摸索,主要得到了以下幾個方面的成果:
   從光波導的的導波理論出發(fā),利用軟件模擬,采用場模式匹配方法FMM,模擬了SOI 脊形光波導的單模條件,偏振相關性,損耗特性(彎曲損耗)。分析了脊高為0.34μm和0.22μm的SOI基片,深刻蝕和淺刻蝕時模式分布的區(qū)別,淺刻蝕時TM偏振模會泄露到旁邊的平板波導中,波導只有TE模;計算了TE和TM模的有效折射率差,得到了偏振

3、無關性較好的范圍,從而得到既滿足單模條件,偏振無關性又比較好的的納米脊波導;分析了脊波導的彎曲損耗與波導的脊寬,刻蝕深度,彎曲半徑,輸入波長等因素的關系。
   在光波導的制作工藝方面,介紹了一套完整的光波導制作流程,本文在實驗中采用的是MA6 紫外線光刻和RIE 刻蝕,通過對光刻和刻蝕參數的不斷摸索優(yōu)化,并采用多種觀測工具測試,得到了表面圖形完整,波導側壁垂直度較好的結果。
   刻蝕會增大波導的表面和側壁粗糙度,而由

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