邊界掃描技術在ICT測試中的應用研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著科學技術的發(fā)展,新電子產品的電路板密度大、元件管腳密集、測試點少,傳統(tǒng)的ICT測試(In Circuit Test在線測試)由于依賴于針床技術,已經無法滿足電子產品的生產測試需求,因此邊界掃描技術就應運而生,ICT測試與邊界掃描測試的結合大大提高了ICT測試的可測率,但是越來越復雜的電路系統(tǒng)使得所需要的ICT邊界掃描測試矢量越來越多,這樣ICT邊界掃描測試的測試時間就不斷增加,測試效率越來越低。
　　本研究針對ICT業(yè)界所面臨

2、的關鍵問題進行邊界掃描技術在ICT測試中應用的進一步研究,從邊界掃描測試的原理、ICT測試的原理以及ICT邊界掃描測試矢量生成的數學原理著手,通過各種測試矢量生成方法的對比,并結合ICT特有的保護二極管測試,選取采用窮舉法生成測試矢量,然后使用矢量分割法減少測試矢量,同時利用保護二極管測試進一步減少測試矢量,從而提高ICT邊界掃描測試效率。以實際生產中的電子產品作為優(yōu)化實驗對象,該產品中有應用到典型的具有邊界掃描機制的元件。優(yōu)化實驗是在

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