TD-LTE NAS協(xié)議一致性測(cè)試規(guī)范研究與TTCN測(cè)試集開發(fā).pdf

1、TD-LXE終端一致性測(cè)試儀表對(duì)保障 TD-LTE終端性能和質(zhì)量，促進(jìn) TD-LTE終端技術(shù)的成熟具有重要意義，而測(cè)試?yán)菧y(cè)試儀表開發(fā)的基礎(chǔ)，開發(fā) TD-LTE終端一致性測(cè)試儀表需要首先開發(fā)相關(guān)測(cè)試?yán)?GPP發(fā)布了 TD-LTE終端協(xié)議一致性測(cè)試?yán)?，但其使用自然語(yǔ)言進(jìn)行描述，無法直接被計(jì)算機(jī)識(shí)別和處理，故必須使用某種編程語(yǔ)言對(duì)測(cè)試?yán)M(jìn)行二次開發(fā)。
　　 本文通過對(duì)3GPP TS36.523中描述的 TD-LTE終端協(xié)議一致性測(cè)

2、試?yán)M(jìn)行深入研究，提出了基于 TTCN-3語(yǔ)言的 TD-LTE協(xié)議一致性測(cè)試?yán)拈_發(fā)方法，同時(shí)進(jìn)行了 TTCN測(cè)試?yán)木唧w實(shí)現(xiàn)，開發(fā)工具為 Telelogic TTCN Tester。首先文中介紹了 TTCN測(cè)試?yán)拈_發(fā)環(huán)境和測(cè)試?yán)目傮w架構(gòu)設(shè)計(jì)，之后對(duì)于 LTE NAS層的常見過程進(jìn)行總結(jié)并對(duì)由本人設(shè)計(jì)的 NAS測(cè)試?yán)M(jìn)行探討。接下來本文又對(duì)測(cè)試?yán)拈_發(fā)過程進(jìn)行闡述并舉例對(duì)常見過程語(yǔ)音回退測(cè)試、跟蹤區(qū)域更新測(cè)試、UE接受 NAS安全模