時延測試故障模擬方法研究.pdf

1、隨著生產(chǎn)工藝的發(fā)展,超大規(guī)模集成電路特征尺寸逐步減小,出現(xiàn)了新型的缺陷類型。這些缺陷共同表現(xiàn)為使被測電路的時延發(fā)生變化。因此,它們被稱為時延缺陷。對時延缺陷進(jìn)行有效測試,一直是工業(yè)界和學(xué)術(shù)界共同關(guān)注的問題。近些年,時延缺陷對電路性能的影響越來越大,時延測試已經(jīng)成為生產(chǎn)測試的核心環(huán)節(jié),已經(jīng)是集成電路測試領(lǐng)域的熱點問題。評估測試質(zhì)量的手段主要是通過故障模擬獲得故障覆蓋率。本文以跳變故障模型為基礎(chǔ)提出了三種模擬方案。
　　 一、提出一

2、種時序電路跳變故障模擬方法。該方法在原有算法的基礎(chǔ)上,通過并行策略以及故障篩選策略提速。實驗結(jié)果說明,提出的方法比原有方法的速度明顯加快。
　　 二、實現(xiàn)了一個以不確定型跳變故障模型為基礎(chǔ)的故障模擬器。針對時延模擬時用系統(tǒng)時鐘周期量化跳變故障的方法不能描述任意大小時延的缺陷,實現(xiàn)了不確定型跳變故障模擬器。不確定的故障大小可以概括描述時延大小為1個至正無窮個系統(tǒng)時鐘周期的所有故障行為。實驗結(jié)果說明,不確定型故障模擬器表現(xiàn)出了預(yù)期的

3、行為,它可以給出一個覆蓋率范圍來估算測試向量對任意大小時延故障的檢測能力。
　　 三、提出一種時序電路小時延故障模擬方法。近年來,小時延缺陷逐漸成為時延故障測試領(lǐng)域的熱點對象。以往的測試評估標(biāo)準(zhǔn)——故障覆蓋率,不能完全代表小時延故障測試的質(zhì)量。統(tǒng)計延時質(zhì)量模型成為評估小時延測試的新標(biāo)準(zhǔn),并已被廣泛接受。統(tǒng)計時延模型說明小時延測試質(zhì)量與故障的敏化路徑有關(guān)。跳變測試不能保證每個故障都是沿著最長的路徑傳播出去,因此,對一些小時延缺陷來