利用電致發(fā)光檢測(cè)晶硅太陽(yáng)電池特性及電致發(fā)光法測(cè)定晶硅太陽(yáng)電池少子壽命.pdf

1、太陽(yáng)能作為新能源目前得到了國(guó)際的極大重視,以晶硅太陽(yáng)電池為主的光伏行業(yè)正在快速蓬勃的發(fā)展之中,在技術(shù)水平和生產(chǎn)工藝不斷進(jìn)步的今天,對(duì)于太陽(yáng)電池片以及組件的質(zhì)量要求越來(lái)越高,而隨著生產(chǎn)技術(shù)的日趨自動(dòng)化,集成化和規(guī)模化,電池片和組件中的缺陷也越來(lái)越復(fù)雜,對(duì)于光伏產(chǎn)品的影響也變得越來(lái)越大。所以,對(duì)于太陽(yáng)電池片以及組件進(jìn)行檢測(cè)和特性測(cè)量具有十分重要的意義。
　　本文著重對(duì)利用電致發(fā)光檢測(cè)晶硅太陽(yáng)電池中的缺陷和特性以及對(duì)利用電致發(fā)光技術(shù)測(cè)定

2、晶硅太陽(yáng)電池少子壽命進(jìn)行了研究。利用電致發(fā)光技術(shù),可以快速準(zhǔn)確地檢測(cè)晶硅太陽(yáng)電池中存在的隱裂、斷柵、黑片、燒結(jié)污染和工藝污染等問(wèn)題。而對(duì)太陽(yáng)電池組件的檢測(cè)可以找出組件中存在的虛焊、短路、電池片不均等問(wèn)題。進(jìn)一步地,我們?cè)趯?duì)傳統(tǒng)晶硅太陽(yáng)電池缺陷的檢測(cè)基礎(chǔ)上,結(jié)合多種檢測(cè)方法,對(duì)磷墨印刷SE電池的電致發(fā)光進(jìn)行了討論和分析,通過(guò)檢測(cè)可以證明SE電池可以提高短波響應(yīng),減小柵線(xiàn)接觸電阻,提高短路電流和開(kāi)路電壓從而提高太陽(yáng)電池效率,也驗(yàn)證了電致發(fā)光

3、技術(shù)檢測(cè)太陽(yáng)電池缺陷的準(zhǔn)確性。
　　同時(shí)討論了利用電致發(fā)光量化測(cè)定晶硅太陽(yáng)電池特性的研究,通過(guò)理論推導(dǎo)和計(jì)算得到了晶硅太陽(yáng)電池電致發(fā)光強(qiáng)度與少子壽命的關(guān)系,討論了晶硅太陽(yáng)電池電致發(fā)光的影響因素,結(jié)合準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)光電流衰減法測(cè)量得出的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),與一系列太陽(yáng)電池的性能參數(shù)和電致發(fā)光強(qiáng)度進(jìn)行比較,探究了電致發(fā)光法測(cè)定晶硅太陽(yáng)電池少子壽命的方法并利用實(shí)驗(yàn)進(jìn)行了驗(yàn)證,實(shí)驗(yàn)證明此方法可以有效的測(cè)定晶硅太陽(yáng)電池的少子壽命且準(zhǔn)確率較高,同時(shí)所耗時(shí)間大大

4、縮短,可以在10秒的時(shí)間內(nèi)得到太陽(yáng)電池少子壽命的具體數(shù)值,而且可以利用此方法測(cè)定晶硅太陽(yáng)電池少子壽命的面分布,測(cè)定電池某點(diǎn)或某個(gè)區(qū)域的少子壽命數(shù)值。對(duì)比目前普遍使用的微波光電導(dǎo)衰退法,此種方法能夠快速、穩(wěn)定、準(zhǔn)確地測(cè)定晶硅太陽(yáng)電池的少子壽命,適合大規(guī)模生產(chǎn)的需要,具有推廣的價(jià)值。
　　本文的意義在于提出了一種快速測(cè)定晶硅太陽(yáng)電池少子壽命的方法,并將其測(cè)試時(shí)間縮減到了10秒以?xún)?nèi)的水平,對(duì)于目前抽檢的測(cè)試方法,可以將其應(yīng)用到工業(yè)化生產(chǎn)