激光非接觸測(cè)量在碼盤(pán)安裝調(diào)試中的應(yīng)用.pdf

1、針對(duì)目前在碼盤(pán)安裝調(diào)試中，軸向端跳檢測(cè)主要采用接觸測(cè)量方式，容易使探針劃傷碼道，造成信號(hào)失真，徑向偏心檢測(cè)時(shí)間較長(zhǎng)等缺點(diǎn)，本文采用非接觸測(cè)量方法成功的克服了碼盤(pán)安裝調(diào)試中所遇到的困難。 首先介紹了光學(xué)三角法的測(cè)量原理，并且對(duì)線陣CCD的基本工作原理進(jìn)行了研究。以此為基礎(chǔ)采用半導(dǎo)體激光器作為光源，設(shè)計(jì)了光學(xué)聚焦系統(tǒng)、成像系統(tǒng)和機(jī)械系統(tǒng)，完成了以線陣CCD作為光電轉(zhuǎn)換器件，微處理器作為控制核心的非接觸式光電測(cè)量系統(tǒng)。 測(cè)量系

2、統(tǒng)以直射式光學(xué)三角法為基本測(cè)量原理，采用線陣CCD作為光電轉(zhuǎn)換器件，并通過(guò)數(shù)據(jù)采集卡與計(jì)算機(jī)相連，此系統(tǒng)主要以計(jì)算機(jī)作為顯示控制中心，對(duì)目標(biāo)進(jìn)行測(cè)量。本文詳細(xì)論述了如何對(duì)測(cè)頭的結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì)，對(duì)系統(tǒng)中存在的非線性進(jìn)行補(bǔ)償，分析激光光強(qiáng)、測(cè)量光束直徑及光斑形狀對(duì)測(cè)量精度的影響，并且根據(jù)測(cè)量系統(tǒng)的誤差來(lái)源，提出相應(yīng)的改進(jìn)方案。 CCD作為測(cè)量系統(tǒng)的光電轉(zhuǎn)換器件，它是由高密度的光敏單元構(gòu)成的，普通CCD每個(gè)像元大小由幾微米到十幾微米，但