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文檔簡介
1、嵌入式系統(tǒng)的開發(fā)和芯片設計過程中,有效的調試方案可以幫助開發(fā)者更快定位設計中的缺陷,從而縮短開發(fā)周期。本文研究嵌入式系統(tǒng)的片上調試機制,主要包括標量處理器的精確異常調試模型,軟件調試器和多核嵌入式調試方案。 論文針對調試的低入侵性和可移植性建立了流水線相關的精確異常調試模型,模型通過增加精確調試異常的產(chǎn)生、處理機制,片外調試存儲空間和基于JTAG的快速通信協(xié)議,實現(xiàn)一種通過JTAG接口的嵌入式處理器核的片上調試方案。模型在RIS
2、C32E中的應用表明,該調試模型具有良好的可觀察性、可控制性、低入侵性和高效的調試效率。 RlSC32E片上調試的良好兼容性使其可以使用第三方商用調試器,但是這些調試器的不可擴展性限制了它們的使用范圍。為了提高調試器的可擴展性,我們開發(fā)了更加靈活的調試器RDView。設計采用分層的軟件設計方法,將RDView分為應用層,仿真控制層和通信層。根據(jù)RISC32E片上調試的硬件實現(xiàn),RDView增加了對調試存儲的有效分配和管理。實驗表
3、明,RDView具有較好的可擴展性。 論文從多核嵌入式系統(tǒng)調試(Multiprocessor Embedded Systems Debug,MESD)的計算單元可調試性和處理器核間通信的可調試性兩個方面提出調試方案。MESD通過增加系統(tǒng)級TAP和跟蹤監(jiān)控器研究了多核系統(tǒng)中計算單元與內核通信的可調試性,以一個RISC32E核和兩個MD32核構成的多處理器系統(tǒng)為例分析了多核系統(tǒng)片上調試方案的可行性和RDView在多核系統(tǒng)中的可重用性
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