ITO透明導(dǎo)電膜的溶膠-凝膠法制備及其結(jié)構(gòu)性能的研究.pdf_第1頁
已閱讀1頁,還剩67頁未讀, 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進行舉報或認領(lǐng)

文檔簡介

1、本論文采用溶膠-凝膠法制備出透光導(dǎo)電ITO膜,并對不同工藝條件(不同退火方式、不同銦離子濃度)下所制備ITO膜的結(jié)構(gòu)及性能特征進行了分析研究,在此基礎(chǔ)上,采用正交實驗的方法研究分析了不同工藝條件對所制備ITO膜性能的影響,得出最佳工藝條件,論文還提出一種改進ITO膜導(dǎo)電性能的方法,即用紫外光照射處理ITO膜,以達到降低方阻、提高導(dǎo)電性能的目的。
   論文利用AFM和XRD對膜的形貌和晶體結(jié)構(gòu)進行了測試表征,利用四探針法和紫外-

2、可見分光光度計測試了膜的方塊電阻和透光率,結(jié)果表明ITO膜由納米晶體顆粒組成,為In2O3立方鐵錳礦的多晶結(jié)構(gòu);通過3組不同退火方式及時間的比較實驗,得出經(jīng)過5次提拉5次退火處理后,所得ITO膜的結(jié)構(gòu)和性能相對同樣時間(5h)1次退火處理的有較大改變,前者具有較大的顆粒尺寸和較高的結(jié)晶度,層與層之間的結(jié)合更加致密,膜的導(dǎo)電性能明顯提高;通過制得銦離子濃度不同的5組溶膠,研究銦離子濃度對ITO膜結(jié)構(gòu)及性能的影響,得出隨溶膠中銦離子濃度的提

3、高,膜方阻總的變化趨勢是減小的,5層之前,這種變化尤為明顯,5層之后,由于膜表面粗糙度的增大和缺陷、裂縫的增多致使載流子的遷移率減小,因此方阻的減小不明顯,同樣原因也使膜的透光率隨銦離子濃度的提高有所降低;采用正交實驗的方法得出一組制備ITO膜的最佳實驗方案:錫銦摩爾比例為1:10,提拉速度為200mm/min,提拉次數(shù)為8次,退火溫度和時間分別為550℃和70min;用紫外光(功率分別為2000W、500W和15W)照射處理溶膠-凝膠

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

最新文檔

評論

0/150

提交評論