納米SiO-,2-漿料的分散穩(wěn)定性能及其對半導體硅片的電化學作用研究.pdf_第1頁
已閱讀1頁,還剩84頁未讀, 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內容提供方,若內容存在侵權,請進行舉報或認領

文檔簡介

1、納米SiO<,2>以其獨特的性能已廣泛地應用于化學機械拋光(ChemicalMechanical Polishing,CMP)以及涂料、橡膠、粘合劑、生物、醫(yī)學、催化劑等其他眾多領域。在CMP漿料制備過程中,如何解決由于顆粒微細、比表面能極高所產生的團聚問題,使納米SiO<,2>漿料保持穩(wěn)定分散,是納米SiO<,2>在CMP加工應用中取得預期效果的重要前提。本文綜合固體表面化學、膠體化學、界面化學和溶液化學等多學科基礎理論知識,在對納米

2、粉體的分散技術與納米SiO<,2>的改性技術進行歸納和總結的基礎上,系統(tǒng)研究了水相體系納米SiO<,2>漿料的分散穩(wěn)定性能及其對半導體硅片的電化學腐蝕作用,以期為配制性能優(yōu)良的納米SiO<,2>漿料用于硅片CMP加工提供理論依據(jù)和指導。 本文采用Washburn方法研究了納米SiO<,2>在水相體系中的潤濕性;通過表面ζ電位、吸光度和吸附量的測定探討了不同水相體系條件和多種表面活性劑對納米SiO<,2>漿料分散穩(wěn)定性能的影響,

3、并運用粉體間相互作用的DLVO及EDINO理論分析討論了體系的分散穩(wěn)定作用機理;采用電化學直流極化和交流阻抗技術研究了半導體硅片在不同pH值納米SiO<,2>漿料中的電化學特性。 研究結果表明:水相體系pH為2.45左右時納米SiO<,2>的潤濕效果最好,其潤濕速度最快;而當水相體系的pH為9.52左右時,其潤濕效果最差。納米SiO<,2>的等電點約為2左右,在pH為9~11之間納米SiO<,2>漿料的ζ電位絕對值較高,相應分散

4、性能較好;納米SiO<,2>在無分散劑的水相體系中易產生聚沉,加入不同類型表面活性劑可改善納米SiO<,2>漿料的分散穩(wěn)定性,當加入陰/非離子表面活性劑復配物后,能進一步提高體系的分散穩(wěn)定性能;經理論計算和分析,認為pH值對漿料分散性的影響取決于粉體間雙電層的靜電排斥力;表面活性劑的分散作用主要是因為在粉體表面形成飽和吸附,增加雙電層的厚度及產生空間位阻排斥作用。電化學研究顯示,硅片在pH值為9~11之間的納米SiO<,2>漿料中腐蝕電

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網頁內容里面會有圖紙預覽,若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經權益所有人同意不得將文件中的內容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權或不適當內容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論