電路的并行拓?fù)浞治?pdf

1、近年來(lái)對(duì)線性模擬電路的符號(hào)分析逐漸成為了電路分析中的熱門(mén)研究課題。推動(dòng)符號(hào)分析成為關(guān)注熱點(diǎn)的因素主要是符號(hào)分析相比于數(shù)值分析的獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。符號(hào)分析允許電路元件參數(shù)以符號(hào)形式參與分析,它全面揭示了電路與系統(tǒng)的性能與元件參數(shù)之間的關(guān)系,從而可以加快模擬電路的設(shè)計(jì)過(guò)程。然而符號(hào)分析常被限制用來(lái)分析較小規(guī)模的電路。這是因?yàn)樗枰獙ふ译娐吠負(fù)鋱D中的全部樹(shù),而樹(shù)的數(shù)量又是隨著電路的節(jié)點(diǎn)和回路元件數(shù)量的增加呈指數(shù)增長(zhǎng)的。因此如何對(duì)較大規(guī)模的模擬電路

2、進(jìn)行符號(hào)分析成為了本文的主要研究課題。
　　 本文采用了無(wú)向圖拓?fù)浞ê陀邢驁D拓?fù)浞ǚ謩e對(duì)無(wú)源電路和有源電路進(jìn)行符號(hào)分析。針對(duì)拓?fù)浞治龇椒ú贿m用于分析大規(guī)模電路這一問(wèn)題,本文將數(shù)值分析中常用的撕裂法與拓?fù)浞治龇椒ńY(jié)合起來(lái),提出了電路的并行拓?fù)浞治龇椒ā?br>　　 在實(shí)現(xiàn)上述算法與應(yīng)用過(guò)程中,本文完成了以下工作:
　　 首先分析了拓?fù)浞治龇椒ǖ膬?yōu)勢(shì)和劣勢(shì),在此基礎(chǔ)上提出了將一個(gè)大規(guī)模電路分解成幾個(gè)較小規(guī)模的子電路后再用拓

3、撲分析法并行求解的方案,并采用了數(shù)值分析中常用于分解電路的撕裂法,實(shí)現(xiàn)了對(duì)大規(guī)模電路的并行拓?fù)浞治觥?br>　　 提出了針對(duì)無(wú)源電路的無(wú)向圖并行拓?fù)浞治龇椒?給出了該方法的具體實(shí)現(xiàn)步驟,并通過(guò)一個(gè)例子進(jìn)行了說(shuō)明。
　　 提出了針對(duì)有源電路的有向圖并行拓?fù)浞治龇椒?給出了該方法的具體實(shí)現(xiàn)步驟,以及撕裂時(shí)選取撕裂節(jié)點(diǎn)的基本原則,并通過(guò)一個(gè)例子進(jìn)行了說(shuō)明。
　　 最后本文對(duì)該算法進(jìn)行了總結(jié),并指出了該算法的不足之處。