腦皮層厚度測(cè)量及其應(yīng)用.pdf

1、大腦皮層是大腦的表層部分，是我們意識(shí)活動(dòng)的物質(zhì)基礎(chǔ)，研究表明，隨著大腦的發(fā)育和老化，以及病理改變，皮層厚度在相應(yīng)區(qū)域會(huì)呈現(xiàn)出顯著的變化，即皮層厚度在一定程度上表征了腦組織的發(fā)育和老化情況，并與神經(jīng)衰退等方面的疾病相關(guān)聯(lián)。隨著MR 圖像分辨率的提高和圖像處理分析技術(shù)的發(fā)展，基于MR圖像的腦皮層厚度無(wú)創(chuàng)測(cè)量已經(jīng)成為研究疾病發(fā)生發(fā)展的重要基礎(chǔ)性研究工作。
　　 本文提出了一種將SPM(Statistical Parametric Ma

2、pping)軟件、拉普拉斯方程厚度測(cè)量方法、厚度較正算法相結(jié)合，完成三維MR 圖像的分割、腦皮層厚度測(cè)量和在全腦范圍內(nèi)分析厚度值的方法，研制了計(jì)算機(jī)程序，并對(duì)程序進(jìn)行了可靠性驗(yàn)證。隨著各國(guó)自然災(zāi)害、突發(fā)事件、個(gè)人創(chuàng)傷性遭遇的發(fā)生越來(lái)越多，創(chuàng)傷后應(yīng)激障礙(post traumatic stress disorder，PTSD)患者逐年增多。分析PTSD 患者腦皮層容積和厚度的變化，對(duì)于揭示大腦皮層由于應(yīng)激障礙可能引起的形態(tài)學(xué)變化具有重要意