超細(xì)晶粒鋼晶粒測(cè)量及形態(tài)分類系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與應(yīng)用.pdf

1、近年來(lái)在金屬材料研發(fā)領(lǐng)域里,數(shù)字圖像處理及分析技術(shù)起到了重要的作用,特別是在組織分析、材料檢驗(yàn)等方面,都已經(jīng)逐步取代了傳統(tǒng)的手工模式。但是,對(duì)于晶粒尺寸數(shù)十倍細(xì)化于常規(guī)鋼材的超細(xì)晶粒鋼,如何實(shí)現(xiàn)對(duì)其組織的精確識(shí)別和測(cè)量表征以確保組織的高可控性,仍是一個(gè)極富挑戰(zhàn)性的科學(xué)技術(shù)難題。
　　 為此,本文以超細(xì)晶粒鋼金相組織為研究對(duì)象,自主創(chuàng)新設(shè)計(jì)了超細(xì)晶粒鋼晶粒測(cè)量及形態(tài)分類系統(tǒng)。通過(guò)該系統(tǒng)對(duì)大量的超細(xì)晶粒鋼金相組織的實(shí)測(cè)及手工模式驗(yàn)證

2、,結(jié)果表明該系統(tǒng)能夠很好的實(shí)現(xiàn)對(duì)極細(xì)晶粒的測(cè)量、分類工作,可獲得理想的晶粒圖像分析結(jié)果。
　　 本文主要研究?jī)?nèi)容和創(chuàng)新點(diǎn):
　　 1)針對(duì)超細(xì)晶粒鋼所特有的晶界模糊、晶界缺失及晶內(nèi)孔洞等圖像缺陷,在分析研討了常用圖像處理算法的基礎(chǔ)上,提出了基于直方圖均衡的圖像灰度修正算法和基于核心修正的改進(jìn)分水嶺分割算法,并選用了優(yōu)化的掃描線種子填充算法,從而可很好的解決這些圖像缺陷問(wèn)題,獲得理想的修復(fù)效果。
　　 2)針對(duì)超細(xì)

3、晶粒鋼所特有的晶粒形態(tài)特征,建立了有效的系列形態(tài)表征參數(shù),由此充分保證了晶粒特征參數(shù)測(cè)量工作的精確、高效、便捷,其測(cè)量精度可達(dá)±0.01μm,并做到無(wú)漏檢、無(wú)重檢。
　　 3)針對(duì)超細(xì)晶粒鋼晶粒形態(tài)的多樣性,創(chuàng)立了一種新的系列形態(tài)類別,從而為晶粒形態(tài)的科學(xué)分類提供了可靠判據(jù)。
　　 通過(guò)對(duì)大量工程實(shí)例的應(yīng)用結(jié)果表明:本文工作及其所設(shè)計(jì)的超細(xì)晶粒鋼晶粒測(cè)量及形態(tài)分類系統(tǒng)具有較好的普適性,可以推廣應(yīng)用于材料領(lǐng)域、生物領(lǐng)域中背