列控車(chē)載ATP系統(tǒng)硬件在環(huán)測(cè)試平臺(tái)研究.pdf

1、列車(chē)運(yùn)行控制系統(tǒng)是保障列車(chē)安全運(yùn)行的重要組成部分，車(chē)載ATP子系統(tǒng)是列控系統(tǒng)核心設(shè)備之一。因此需對(duì)車(chē)載ATP設(shè)備進(jìn)行完備的測(cè)試，而復(fù)雜的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)和緊張的運(yùn)營(yíng)節(jié)奏增加了測(cè)試的難度。傳統(tǒng)的測(cè)試方法包括計(jì)算機(jī)仿真測(cè)試和現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試，由于測(cè)試形式的限制，傳統(tǒng)測(cè)試方法存在較大的局限性。
　　本文采用硬件在環(huán)測(cè)試方法，實(shí)現(xiàn)針對(duì)車(chē)載ATP系統(tǒng)真實(shí)設(shè)備的測(cè)試，在不影響運(yùn)行效率的前提下提高測(cè)試的完備性。通過(guò)搭建車(chē)載ATP系統(tǒng)硬件在環(huán)測(cè)試平臺(tái)，對(duì)車(chē)載AT

2、P設(shè)備的主要功能進(jìn)行測(cè)試并提供測(cè)試的分析、記錄工具。主要工作有:
　　(1)根據(jù)CTCS-3列控車(chē)載設(shè)備技術(shù)規(guī)范，分析車(chē)載ATP設(shè)備的測(cè)試需求，應(yīng)針對(duì)主要功能和狀態(tài)轉(zhuǎn)換進(jìn)行測(cè)試。設(shè)計(jì)硬件在環(huán)測(cè)試平臺(tái)總體結(jié)構(gòu)，包含NI列控仿真平臺(tái)與制動(dòng)接口設(shè)備。
　　(2)針對(duì)車(chē)載ATP設(shè)備的測(cè)速功能和速度防護(hù)功能，設(shè)計(jì)硬件在環(huán)測(cè)試方案。通過(guò)仿真設(shè)備產(chǎn)生并發(fā)送AB相方波、行車(chē)許可等ATP設(shè)備運(yùn)行所需數(shù)據(jù)，根據(jù)ATP設(shè)備輸出的制動(dòng)信號(hào)判斷其運(yùn)行

3、是否正常。
　　(3)開(kāi)發(fā)以STM32系列芯片為核心的接口電路板，用于實(shí)現(xiàn)ATP設(shè)備與NI仿真測(cè)試平臺(tái)的驅(qū)動(dòng)、采集、CAN總線通信功能。利用動(dòng)態(tài)方波實(shí)現(xiàn)采集電路與驅(qū)動(dòng)電路以符合故障一安全原則。
　　(4)利用契約檢查理論，完成測(cè)試與分析。參考中國(guó)郵路問(wèn)題中的FE算法自動(dòng)生成測(cè)試序列。通過(guò)契約信息中的前置、后置條件實(shí)現(xiàn)對(duì)節(jié)點(diǎn)的測(cè)試。
　　運(yùn)行記錄表明硬件在環(huán)平臺(tái)滿足測(cè)試需求，能夠?qū)Ρ粶y(cè)設(shè)備的主要功能進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試過(guò)程中充