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1、第6章 常用無損檢測(cè)方法,6.1 超聲檢測(cè) 6.2 射線檢測(cè) 6.3 渦流檢測(cè) 6.4 聲發(fā)射檢測(cè) 6.5 紅外檢測(cè) 6.6 激光全息檢測(cè) 6.7 其他無損檢測(cè)方法 思考與練習(xí)題,6.1 超 聲 檢 測(cè),6.1.1 超聲檢測(cè)的基礎(chǔ)知識(shí) 1. 描述超聲波的基本物理量 超聲波的產(chǎn)生依賴于做高頻機(jī)械振動(dòng)的“聲源”和傳播機(jī)械振動(dòng)的彈性介質(zhì),所以機(jī)械振動(dòng)和波動(dòng)是超聲檢測(cè)的物理基礎(chǔ)。 描述超聲波波動(dòng)特性的基本物理量有: 聲
2、速c、頻率f、波長(zhǎng)λ、周期T 、角頻率ω。其中頻率和周期是由波源決定的,聲速與傳聲介質(zhì)的特性和波型有關(guān)。 這些量之間的關(guān)系如下:,(6-1),2. 超聲波的特點(diǎn) 超聲波波長(zhǎng)很短,這決定了超聲波具有一些重要特性,使其能廣泛應(yīng)用于無損檢測(cè)?!?) 方向性好 超聲波具有像光波一樣定向束射的特性。 2)穿透能力強(qiáng) 對(duì)于大多數(shù)介質(zhì)而言,它具有較強(qiáng)的穿透能力。例如在一些金屬材料中,其穿透能力可達(dá)數(shù)米。 3)能量高 超聲檢測(cè)的工作頻率
3、遠(yuǎn)高于聲波的頻率,超聲波的能量遠(yuǎn)大于聲波的能量。 4)遇有界面時(shí),將產(chǎn)生反射、折射和波型的轉(zhuǎn)換。利用超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)這些物理現(xiàn)象,經(jīng)過巧妙的設(shè)計(jì),使超聲檢測(cè)工作的靈活性、精確度得以大幅度提高。,3. 超聲波的分類 超聲波的分類方法很多,如圖6.1所示。主要有:按介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)方向與波的傳播方向之間的關(guān)系分類,即按波型分類;按波振面的形狀分類,即按波形分;按振動(dòng)的持續(xù)時(shí)間分類等。其中,按波型是研究超聲波在介質(zhì)中傳播規(guī)律的重
4、要理論依據(jù),將著重討論。,圖 6-1 超聲波的分類,1) 超聲波的波型 超聲波的波型指的是介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)方向與波的傳播方向的關(guān)系。按波型可分為縱波、橫波、表面波和板波等。 (1) 縱波。介質(zhì)中質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)方向與波的傳播方向相同的波叫縱波,用L表示(見圖6-2)。介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)在交變拉壓應(yīng)力的作用下,質(zhì)點(diǎn)之間產(chǎn)生相應(yīng)的伸縮變形,從而形成了縱波??v波傳播時(shí),介質(zhì)的質(zhì)點(diǎn)疏密相間,所以縱波有時(shí)又稱為壓縮波或疏密波。,圖6-2 縱波,(2)
5、 橫波。介質(zhì)中質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)方向垂直于波的傳播方向的波叫橫波,用S或T表示(見圖6-3)。橫波的形成是由于介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)受到交變切應(yīng)力作用時(shí), 產(chǎn)生了切變形變,所以橫波又叫做切變波。液體和氣體介質(zhì)不能承受切應(yīng)力,只有固體介質(zhì)能夠承受切應(yīng)力,因而橫波只能在固體介質(zhì)中傳播,不能在液體和氣體介質(zhì)中傳播。 ?。?) 表面波(瑞利波)。當(dāng)超聲波在固體介質(zhì)中傳播時(shí), 對(duì)于有限介質(zhì)而言,有一種沿介質(zhì)表面?zhèn)鞑サ牟幢砻娌?見圖6-4)。瑞利首先對(duì)這種波給予
6、了理論上的說明,因此表面波又稱為瑞利波, 常用R表示。,圖6-3 橫波,圖6-4 表面波,(4) 板波(蘭姆波)。在板厚和波長(zhǎng)相當(dāng)?shù)膹椥员“逯袀鞑サ某暡ń邪宀?或蘭姆波)。板波傳播時(shí)聲場(chǎng)遍及整個(gè)板的厚度。 薄板兩表面質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)為縱波和橫波的組合, 質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)的軌跡為一橢圓,在薄板的中間也有超聲波傳播(見圖6-5)。板波按其傳播方式又可分為對(duì)稱型(S型)和非對(duì)稱型(A型)兩種,這是由質(zhì)點(diǎn)相對(duì)于板的中間層作對(duì)稱型還是非對(duì)稱型運(yùn)動(dòng)來決定的。,
7、圖6-5 板波(a) 對(duì)稱型; (b) 非對(duì)稱型,2) 超聲波的波形 超聲波由聲源向周圍傳播的過程可用波陣面進(jìn)行描述。 如圖6-6所示,在無限大且各向同性的介質(zhì)中,振動(dòng)向各方向傳播, 用波線表示傳播的方向;將同一時(shí)刻介質(zhì)中振動(dòng)相位相同的所有質(zhì)點(diǎn)所連成的面稱為波陣面;某一時(shí)刻振動(dòng)傳播到達(dá)的距聲源最遠(yuǎn)的各點(diǎn)所連成的面稱為波前。在各向同性介質(zhì)中波線垂直于波陣面。在任何時(shí)刻,波前總是距聲源最遠(yuǎn)的一個(gè)波陣面。 波前只有一個(gè),而波陣面可以
8、有任意多個(gè)。,圖6-6 波線、 波前與波陣面(a) 平面波; (b) 柱面波; (c) 球面波,根據(jù)波陣面的形狀(波形),可將超聲波分為平面波、柱面波和球面波等。 平面波即波陣面為平面的波,而柱面波的波陣面為同軸圓柱面,球面波的波陣面為同心球面,如圖6-6所示。當(dāng)聲源是一個(gè)點(diǎn)時(shí),在各向同性介質(zhì)中的波陣面為以聲源為中心的球面。 可以證明,球面波中質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)幅度與距聲源的距離成反比。 當(dāng)聲源的尺寸遠(yuǎn)小于測(cè)量點(diǎn)距聲源的距離時(shí),可以
9、把超聲波看成是球面波。 球面波的波動(dòng)方程為,(6-2),3)連續(xù)波與脈沖波 連續(xù)波是介質(zhì)中各質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)時(shí)間為無窮時(shí)的波。脈沖波是質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)時(shí)間很短的波,超聲檢測(cè)中最常用的是脈沖波。對(duì)脈沖波進(jìn)行頻譜分析,可知它并非單一頻率,而是包括多種頻率成分。其中人們關(guān)心的頻譜特征量主要有峰值頻率、頻帶寬度和中心頻率。,6.1.2 超聲場(chǎng)及介質(zhì)的聲參量簡(jiǎn)介 1.超聲場(chǎng)的物理量 1) 聲壓 當(dāng)介質(zhì)中有超聲波傳播時(shí),由于介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)振動(dòng),使介質(zhì)中
10、壓強(qiáng)交替變化。超聲場(chǎng)中某一點(diǎn)在某一瞬時(shí)所具有的壓強(qiáng)P1與沒有超聲波存在時(shí)同一點(diǎn)的靜態(tài)壓強(qiáng)P0之差稱為該點(diǎn)的聲壓,用P表示,即,(6-3),對(duì)于平面余弦波, 可以證明:,(6-4),式中: 為介質(zhì)的密度;c為介質(zhì)中的聲速; 為介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)的振幅;V為介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)的角頻率; 為質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)速度的幅值;t為時(shí)間;x為質(zhì)點(diǎn)距聲源的距離; 為聲壓幅值?! ∮缮鲜娇芍撼晥?chǎng)中某一點(diǎn)的聲壓幅值Pm與角頻率成正比,也就與頻率成
11、正比。由于超聲波的頻率很高,遠(yuǎn)大于聲波的頻率,故超聲波的聲壓一般也遠(yuǎn)大于聲波的聲壓。,2) 聲阻抗 介質(zhì)中某一點(diǎn)的聲壓幅值Pm與該處質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)速度幅值Vm之比,稱為聲阻抗,常用Z表示。在同一聲壓下,聲阻抗Z愈大,質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)速度就愈小。聲阻抗表示超聲場(chǎng)中介質(zhì)對(duì)質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)的阻礙作用。 由式(6-4)得,(6-5),3) 聲強(qiáng) 單位時(shí)間內(nèi)垂直通過單位面積的聲能,稱為聲強(qiáng),用I表示。 對(duì)于平面縱波,其聲強(qiáng)I為,(6-6),由式(6-6
12、)可知,超聲場(chǎng)中,聲強(qiáng)與角頻率平方成正比。由于超聲波的頻率很高,故超聲波的聲強(qiáng)很大,這是超聲波能用于探傷的重要依據(jù)。,4) 分貝的概念 實(shí)際探傷中,將聲強(qiáng)I1與I2之比取對(duì)數(shù)的10倍得到二者相差的數(shù)量級(jí),這時(shí)單位為分貝,用dB表示,即,(6-7),根據(jù)式(6-6),有,(6-8),式中: Pm1、 Pm2分別為聲強(qiáng)I1、 I2對(duì)應(yīng)的聲壓幅值。,對(duì)于線性良好的超聲波探傷儀,示波屏上波高與聲壓成正比,即任意兩波高H1、H2之比等于相應(yīng)
13、的聲壓Pm1、Pm2之比, 即,(6-9),2. 介質(zhì)的聲參量 1) 聲速 聲速表示聲波在介質(zhì)中傳播的速度,它與超聲波的波型有關(guān),但更依賴于傳聲介質(zhì)自身的特性。因此,聲速又是一個(gè)表征介質(zhì)聲學(xué)特性的參量。了解受檢材料的聲速,對(duì)于缺陷的定位和定量分析都有重要的意義。 聲速又可分為相速度和群速度。相速度是指聲波傳播到介質(zhì)的某一選定相位點(diǎn)時(shí)在傳播方向上的聲速。群速度是指?jìng)鞑ヂ暡ǖ陌j(luò)上具有某種特征(如幅值最大)的點(diǎn)上沿傳播方
14、向上的聲速。 群速度是波群的能量傳播速度。,(1)縱波、橫波和表面波的聲速??v波、橫波和表面波的聲速主要是由介質(zhì)的彈性性質(zhì)、密度和泊松比決定的,而與頻率無關(guān),即它們各自的相速度和群速度相同,因此一般說到它們的聲速都是指相速度。不同材料聲速值有較大的差異。 在給定的材料中,頻率越高,波長(zhǎng)越短。 同一固體介質(zhì)中,縱波聲速c1大于橫波聲速cs,橫波聲速cs又大于瑞利波聲速cr。對(duì)于鋼材,c1 ≈1.8cs,cs≈1.1cr?! 。?
15、) 板波的聲速。板波的聲速與其他波型不同,其相速度隨頻率變化而變化。相速度隨頻率變化而變化的現(xiàn)象被稱為頻散。,2) 聲衰減系數(shù) 超聲波的衰減指的是超聲波在材料中傳播時(shí),聲壓或聲能隨距離的增大逐漸減小的現(xiàn)象。引起衰減的原因主要有三個(gè)方面:一是聲束的擴(kuò)散;二是由于材料中的晶粒或其他微小顆粒引起聲波的散射;三是介質(zhì)的吸收。 在超聲檢測(cè)中,談到超聲波在材料中的衰減時(shí),通常關(guān)心的是散射衰減和吸收衰減,而不包括擴(kuò)散衰減。 對(duì)于平
16、面波來說, 聲壓幅值衰減規(guī)律可用下式表示:,(6-10),介質(zhì)中超聲波的衰減系數(shù)α與超聲波的頻率關(guān)系密切, 通常情況下,衰減系數(shù)隨頻率的增高而增大。 將式(6-10)兩邊取對(duì)數(shù)可轉(zhuǎn)換為以下關(guān)系式:,(6-11),此時(shí),的單位為dB/mm(分貝/毫米)?! ≡诔暀z測(cè)中,直接可測(cè)量的量是兩個(gè)聲壓比值的分貝數(shù)。 因此衰減系數(shù)可通過超聲波穿過一定厚度(Δx)材料后聲壓衰減的分貝(ΔdB)數(shù)進(jìn)行測(cè)量,將衰減量(ΔdB)除以厚度即
17、為衰減系數(shù)α。,6.1.3 超聲波在介質(zhì)中的傳播特性 1. 超聲波垂直入射到平界面上的反射和透射 如圖6-7所示,當(dāng)超聲波垂直入射到兩種介質(zhì)的界面時(shí), 一部分能量透過界面進(jìn)入第二種介質(zhì),成為透射波(聲強(qiáng)為It), 波的傳播方向不變;另一部分能量則被界面反射回來,沿與入射波相反的方向傳播,成為反射波(聲強(qiáng)為Ir)。聲波的這一性質(zhì)是超聲波檢測(cè)缺陷的物理基礎(chǔ)。,圖6-7 超聲波垂直入射于平界面的反射與透射,通常將反射波聲壓Pr與
18、入射波聲壓P0的比值稱為聲壓反射率r,將透射波聲壓Pt和P0的比值稱為聲壓透射率t??梢宰C明, r和t的數(shù)學(xué)表達(dá)式為:,(6-12),(6-13),式中: Z1為第一種介質(zhì)的聲阻抗; Z2為第二種介質(zhì)的聲阻抗。,為了研究反射波和透射波的能量關(guān)系,引入聲強(qiáng)反射率R和聲強(qiáng)透射率T兩個(gè)量。R為反射波聲強(qiáng)(Ir)和入射波聲強(qiáng)(I0)之比;T為透射波聲強(qiáng)(It)和入射波聲強(qiáng)(I0)之比。,(6-14),(6-15),對(duì)于脈沖反射技術(shù)來說,還有一個(gè)
19、有意義的量是聲壓往返透過率,如圖6-8所示。通常入射聲壓經(jīng)過兩種介質(zhì)的界面透射到試件中后,均需經(jīng)過相反的路徑(假設(shè)在工件底面的反射為全反射)再次穿過界面到第一介質(zhì)中才被探頭所接收。 兩次穿透界面時(shí)透射率的大小,決定著接收信號(hào)的強(qiáng)弱。因此, 將聲壓沿相反方向兩次穿過界面時(shí)總的透射率稱為聲壓往返透過率(tp),其數(shù)值等于兩次穿透界面的透射率的乘積, 由式(6-13)可得,(6-16),圖6-8 聲壓往返透過率,2. 超聲波垂直入射到多層界面
20、上時(shí)的反射和透射 在超聲檢測(cè)中經(jīng)常遇到超聲波進(jìn)入第二種介質(zhì)后,穿過第二種介質(zhì)再進(jìn)入第三種介質(zhì)的情況。如圖6-9所示,當(dāng)超聲波從介質(zhì)1(聲阻抗為Z1)中垂直入射到介質(zhì)1和介質(zhì)2(聲阻抗為Z2)的界面上時(shí), 一部分聲能被反射,另一部分透射到介質(zhì)2中;當(dāng)透射的聲波到達(dá)介質(zhì)2和介質(zhì)3(聲阻抗為Z3)的界面時(shí),再次發(fā)生反射與透射,其反射波部分在介質(zhì)2中傳播至介質(zhì)2與介質(zhì)1的界面,則又會(huì)發(fā)生同樣的過程。如此不斷地繼續(xù)下去,則在兩個(gè)界面的兩側(cè)
21、,產(chǎn)生一系列的反射波與透射波。,圖6-9 在兩個(gè)界面上的反射和透射,3. 超聲波傾斜入射到平界面上的反射、 折射和波型變換 當(dāng)超聲波相對(duì)于界面入射點(diǎn)法線以一定的角度傾斜入射到兩種不同介質(zhì)的界面上時(shí),在界面上會(huì)產(chǎn)生反射、折射和波型轉(zhuǎn)換現(xiàn)象,見圖6-10。入射聲波與入射點(diǎn)法線之間的夾角稱為入射角。,圖6-10 超聲波傾斜入射到平界面上的反射、折射和波型變換(a) 縱波入射; (b) 橫波入射,1) 反射 如圖6-10(a)所
22、示,當(dāng)縱波以入射角αL傾斜入射到異質(zhì)界面上時(shí),將會(huì)在介質(zhì)1中于入射點(diǎn)法線的另一側(cè)產(chǎn)生與法線成一定夾角αL′的反射縱波。 反射波與入射點(diǎn)法線之間的夾角稱為反射角。入射縱波與反射縱波之間的關(guān)系符合幾何光學(xué)的反射定律,即αL=αL′?! ∨c光的反射不同的是,當(dāng)介質(zhì)1為固體時(shí),界面上既產(chǎn)生反射縱波,同時(shí)又發(fā)生波型轉(zhuǎn)換并產(chǎn)生反射橫波,即反射后同時(shí)產(chǎn)生縱波與橫波兩種波型。這時(shí),橫波反射角αS′與縱波入射角之間的關(guān)系與光學(xué)中的斯奈爾定律相同,為,(
23、6-17),若入射聲波為橫波,也會(huì)產(chǎn)生同樣的現(xiàn)象,見圖6-10(b), 這時(shí)橫波入射角αS與橫波反射角αS′相等。介質(zhì)1為固體時(shí)縱波反射角與橫波入射角之間的關(guān)系為,(6-18),由于固體中縱波聲速總是大于橫波聲速,因此,無論是縱波入射還是橫波入射,均有 。當(dāng)介質(zhì)1為液體或氣體時(shí),則入射波和反射波只能為縱波。,2) 折射 當(dāng)兩種介質(zhì)聲速不同時(shí),透射部分的聲波會(huì)發(fā)生傳播方向的改變,稱為折射。不論是縱波入射還是橫波入射,只要介質(zhì)2
24、為固體, 則介質(zhì)2中除有與入射波相同波型的折射波外,均可因在界面發(fā)生波型轉(zhuǎn)換而產(chǎn)生與入射波不同波型的折射波。 這時(shí),介質(zhì)2中可能同時(shí)存在縱波與橫波(見圖6-10)。折射角與入射角之間的關(guān)系符合斯奈爾定律。 折射角相對(duì)于入射角的大小和折射波聲速與入射波聲速的比率有關(guān)。同時(shí),由于縱波聲速總是大于橫波聲速,因此縱波折射角βL要大于橫波折射角βS。,3) 臨界角 當(dāng)?shù)诙N介質(zhì)中的折射波型的聲速比第一種介質(zhì)中入射波型的聲速大時(shí),折射
25、角大于入射角。此時(shí),存在一個(gè)臨界入射角,在這個(gè)角度下,折射角等于90°。大于這一角度時(shí), 第二種介質(zhì)中不再有相應(yīng)波型的折射波。 (1) 第一臨界角。當(dāng)入射波為縱波,且cL2>cL1時(shí),使縱波折射角達(dá)到90°的縱波入射角稱為第一臨界角,用符號(hào)αⅠ表示。當(dāng)縱波入射角大于第一臨界角時(shí),第二介質(zhì)中不再有折射縱波。,(2) 第二臨界角。當(dāng)入射波為縱波,第二介質(zhì)為固體, 且cS2>cL1時(shí),使橫波折射角達(dá)到9
26、0°的縱波入射角為第二臨界角,用符號(hào)αⅡ表示。 通常在超聲檢測(cè)中,臨界角主要應(yīng)用于第二介質(zhì)為固體, 而第一介質(zhì)為固體或液體的情況。這種情況下,可利用入射角在第一臨界角和第二臨界角之間的范圍,在固體中產(chǎn)生一定角度范圍內(nèi)的純橫波, 對(duì)試件進(jìn)行檢測(cè)。,(3) 第三臨界角。第三臨界角是在固體介質(zhì)與另一種介質(zhì)的界面上,用橫波作為入射波時(shí)產(chǎn)生的。使縱波反射角達(dá)到90°時(shí)的橫波入射角稱為第三臨界角,用表示αⅢ。 4
27、) 斜入射時(shí)的聲壓反射率和透射率 斜入射時(shí)反射波和透射波的聲壓關(guān)系較為復(fù)雜。但在超聲檢測(cè)中,關(guān)心的是斜入射的反射率和透射率隨入射角度的變化。 對(duì)脈沖反射法, 更關(guān)心的是聲壓往返透過率隨入射角度的變化。,3. 超聲波入射到曲界面上的反射和透射 1) 平面波入射到曲界面上的反射 平面波入射到曲界面上時(shí)的情況如圖6-11所示。平面波束與曲面上各入射點(diǎn)的法線成不同的夾角:入射角為0°的聲線沿原方向返回,稱為聲軸;其
28、余聲線的反射角則隨著距聲軸距離的增大而增大。當(dāng)曲面是球面時(shí),反射線或其延長(zhǎng)線匯聚于一個(gè)焦點(diǎn)上;反射面為圓柱面時(shí),反射線或其延長(zhǎng)線匯聚于一條焦線上。此時(shí),焦距F與曲面曲率半徑r的關(guān)系為,(6-19),圖6.11 平面波入射至曲面時(shí)的反射,2) 平面波在曲面上的折射 平面波入射到曲面上時(shí),其折射波也將發(fā)生聚焦或發(fā)散, 如圖6-12所示。這時(shí)折射波的聚焦或發(fā)散不僅與曲面的凹凸有關(guān),而且與界面兩側(cè)介質(zhì)的
29、聲速有關(guān)。對(duì)于凹面,c1c2時(shí)發(fā)散;對(duì)于凸面, c1>c2時(shí)聚焦,c1<c2時(shí)發(fā)散。 折射后的焦距F為,(6-20),圖6-12 平面波在曲面上的折射,6.1.4 由圓形壓電晶片產(chǎn)生的聲場(chǎng)簡(jiǎn)介 1. 圓形壓電晶片聲源的聲場(chǎng) 理想的圓盤聲源是指圓形平面的聲振動(dòng)源,當(dāng)它沿平面法線方向振動(dòng)時(shí),其面上各點(diǎn)的振動(dòng)速度幅值和相位都相同, 發(fā)射的波稱為活塞波。 圓盤聲源發(fā)出的聲場(chǎng),由于聲源尺寸有限,必然在其邊緣
30、發(fā)生衍射效應(yīng)使聲束向周圍空間擴(kuò)散,形成一個(gè)隨距離增大而波陣面面積不斷擴(kuò)大的擴(kuò)散聲束。另一方面,聲源上各點(diǎn)發(fā)出的聲波相互干涉又使得聲壓的空間分布不是隨距離單調(diào)變化的。 因此,對(duì)圓盤聲源聲場(chǎng)中聲壓分布的描述非常復(fù)雜。從圓盤聲源的對(duì)稱性來分析,通過圓盤中心且垂直于盤面的直線應(yīng)是聲場(chǎng)的對(duì)稱軸,稱為圓盤聲源軸線。討論圓盤聲源的聲場(chǎng)將從聲壓沿軸線的分布以及聲束擴(kuò)散的特性著手。,1) 圓盤聲源軸線上的聲壓分布 根據(jù)疊加原理,圓盤聲源軸線上任何一
31、點(diǎn)處的聲壓等于聲源上各點(diǎn)輻射的聲壓在該點(diǎn)的疊加。如果聲源發(fā)出的波為連續(xù)簡(jiǎn)諧波,并假定介質(zhì)為無衰減的液體介質(zhì),則可推出聲源軸上聲壓幅值P的分布符合下式:,(6-21),式中:P0為聲源的起始聲壓;D為圓盤聲源的直徑; λ為傳聲介質(zhì)中聲波的波長(zhǎng);x為圓盤聲源軸線上某一點(diǎn)距聲源的距離。,圖6-13 圓盤聲源軸線上的聲壓分布,由式(6-21),經(jīng)數(shù)學(xué)推導(dǎo),可以得到最后一個(gè)聲壓極大值點(diǎn)距聲源距離的表達(dá)式:,(6-22),當(dāng)D>>λ時(shí),
32、λ/4可以忽略,從而得到近場(chǎng)長(zhǎng)度的簡(jiǎn)化計(jì)算公式如下,可用于實(shí)際工作中近場(chǎng)長(zhǎng)度的估算:,(6-23),再看圖6-13中遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)部分的特點(diǎn),圖中標(biāo)有“P球”的虛線為球面波聲壓隨距離的變化曲線,可以看出,距離大于3N 以后,圓盤聲源聲軸上的聲壓幅值變化與球面波的曲線非常接近。這一結(jié)論也可通過式(6-21)導(dǎo)出。,當(dāng)4λx/D2>3,也就是x>3N時(shí),式(6-21)可簡(jiǎn)化為,(6-24),式中:S=πD2/4為圓盤聲源的面積。聲壓幅值
33、與距聲源的距離成反比,正是球面波的聲壓幅值的變化規(guī)律。,2) 指向性與擴(kuò)散角 指向性與擴(kuò)散角研究的是聲束在空間擴(kuò)散的規(guī)律。同樣根據(jù)疊加原理,可將在空間中距聲源有一定距離的任一點(diǎn)的聲壓,看做是聲源上各點(diǎn)的輻射聲壓的疊加(見圖6-14),從而得到聲場(chǎng)內(nèi)聲壓幅值的分布情況, 如圖6-15所示。,圖6-14 圓盤聲源遠(yuǎn)場(chǎng)中任一點(diǎn)的聲壓推導(dǎo),圖6-15 圓盤聲源聲場(chǎng)指向性示意圖,超聲場(chǎng)中超聲波的能量主要集中于以聲軸為中心的某一角度范圍內(nèi),
34、這一范圍稱為主聲束。這種聲束集中向一個(gè)方向輻射的性質(zhì)叫做聲場(chǎng)的指向性。在主聲束角度范圍以外還存在一些能量很低的、只分布于聲源附近的副瓣聲束。 主聲束所包含的角度范圍可由距聲源充分遠(yuǎn)處的聲壓分布得到。設(shè)Rs為圓形聲源的半徑,r為空間任一點(diǎn)M到聲源中心的距離,θ為M點(diǎn)與聲源中心的連線與聲源軸線的夾角。當(dāng)滿足條件r>3R2s/λ,也就是r>3N時(shí),聲壓幅值的表達(dá)式為,(6-25),式中: J1為第一類第一階貝塞爾函數(shù); S為
35、聲源面積。,根據(jù)上式可知,距聲源充分遠(yuǎn)處的任一橫截面上,以聲源軸線上的聲壓為最高。這是超聲檢測(cè)中對(duì)缺陷定位的依據(jù)。 同時(shí),存在偏離軸線的若干個(gè)角度θ上的聲壓的幅值為零。 將遠(yuǎn)場(chǎng)中第一個(gè)聲壓為零的角度,稱為指向角或半擴(kuò)散角, 以θ0表示為,(6-26),指向角是代表主聲束范圍的角度,反映了聲束的定向集中程度,也反映了聲束隨距離擴(kuò)散的快慢。指向角越大,則聲束指向性越差,聲束擴(kuò)散越快。由式(6-26)可看出,聲源的直徑越大, 波長(zhǎng)越短,則聲束
36、指向角越小, 指向性越好。,圖6-16 圓盤聲源非擴(kuò)散區(qū)示意圖,當(dāng)λ<<D時(shí),式(6-26)可簡(jiǎn)化為,(6-27),由于超聲能量主要集中于主聲束,對(duì)于圓形晶片,可以認(rèn)為在距聲源一定距離內(nèi),超聲能量未逸出以晶片直徑所約束的范圍, 聲束直徑小于晶片直徑。這一距離之內(nèi)就稱為非擴(kuò)散區(qū), 如圖6-16所示。非擴(kuò)散區(qū)之外,則稱為擴(kuò)散區(qū)。按幾何關(guān)系, 可得到非擴(kuò)散區(qū)的長(zhǎng)度b為,(6-28),3) 實(shí)際聲源的聲場(chǎng) 簡(jiǎn)化計(jì)算時(shí)假定聲源是
37、均勻、連續(xù)激發(fā)的,而實(shí)際探頭多是非均勻激發(fā)的脈沖波源;簡(jiǎn)化計(jì)算時(shí)假定介質(zhì)是液體介質(zhì), 實(shí)際檢測(cè)對(duì)象多為固體介質(zhì)。對(duì)實(shí)際聲場(chǎng)的研究結(jié)果表明,實(shí)際聲場(chǎng)與簡(jiǎn)化計(jì)算結(jié)果的差別主要在于近場(chǎng)區(qū)的聲壓分布。簡(jiǎn)化計(jì)算結(jié)果中近場(chǎng)區(qū)聲壓變化劇烈,可有多處極大值和極小值。 而實(shí)際聲場(chǎng)近場(chǎng)區(qū)聲壓分布比較均勻,幅度變化小,極值點(diǎn)的數(shù)量也明顯減少。 盡管實(shí)際聲場(chǎng)與簡(jiǎn)化分析結(jié)果有所差異,但在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)是基本符合的。因此,可以應(yīng)用簡(jiǎn)化推導(dǎo)得出的結(jié)果
38、,進(jìn)行實(shí)際檢測(cè)中的近似計(jì)算。,2. 規(guī)則反射體回波聲壓與AVG曲線 1) 規(guī)則反射體回波聲壓 超聲檢測(cè)用于發(fā)現(xiàn)材料中缺陷的最常用的技術(shù)是脈沖反射法, 是根據(jù)接收到的反射波的位置、幅度等信息判斷材料內(nèi)部存在缺陷的情況。因此,研究聲場(chǎng)中存在反射界面時(shí)反射波的聲壓對(duì)于缺陷的檢出和缺陷的評(píng)價(jià)是十分重要的。實(shí)際中總是結(jié)合圓盤聲源聲場(chǎng)規(guī)律,討論在圓盤聲場(chǎng)遠(yuǎn)場(chǎng)中,介質(zhì)衰減可以忽略且界面聲壓反射率為1時(shí),不同形狀反射體反射聲壓的變化規(guī)律。,
39、由于實(shí)際缺陷形狀是各種各樣的,甚至可能是不規(guī)則的, 在進(jìn)行理論分析時(shí),采用幾種簡(jiǎn)化的規(guī)則形狀模型來進(jìn)行計(jì)算。 有些形狀可在試樣上人工制作,從而可作為人工模擬反射體, 用于儀器的調(diào)整和缺陷的評(píng)價(jià)。規(guī)則形狀反射體主要包括大平面、圓形或方形平面、球形反射體和圓柱形反射體。具體的規(guī)則反射體回波聲壓公式可查閱有關(guān)資料。當(dāng)對(duì)實(shí)際缺陷大小進(jìn)行計(jì)算時(shí),往往得到的是該缺陷相當(dāng)于多大的規(guī)則反射體, 把這個(gè)大小稱為缺陷的當(dāng)量尺寸。,2) AVG曲線 所
40、謂AVG曲線,是描述規(guī)則反射體距聲源的距離(A)、回波高度(V)、當(dāng)量尺寸(G)三者之間關(guān)系的曲線。A、V、G是德文距離、增益和大小三詞的字頭。利用AVG曲線,可以進(jìn)行缺陷當(dāng)量的評(píng)定。 AVG曲線有多種類型,有縱波AVG曲線和橫波AVG曲線、 平底孔AVG曲線和橫孔AVG曲線、通用AVG曲線和實(shí)用AVG曲線等。通用AVG曲線和實(shí)用AVG曲線都可以用于調(diào)整檢測(cè)靈敏度和對(duì)缺陷進(jìn)行定量。,6.1.5 超聲波檢測(cè)方法 1. 超聲檢
41、測(cè)設(shè)備和器材 超聲檢測(cè)設(shè)備和器材包括超聲波檢測(cè)儀、探頭、試塊、 耦合劑和機(jī)械掃查裝置等。超聲檢測(cè)儀和探頭對(duì)超聲檢測(cè)系統(tǒng)的性能起著關(guān)鍵性的作用,是產(chǎn)生超聲波并對(duì)經(jīng)材料中傳播后的超聲波信號(hào)進(jìn)行接收、處理、顯示的部分。由這些設(shè)備組成一個(gè)綜合的超聲檢測(cè)系統(tǒng),系統(tǒng)的總體性能不僅受到各個(gè)分設(shè)備的影響,還在很大程度上取決于它們之間的配合。隨著工業(yè)生產(chǎn)自動(dòng)化程度的提高,對(duì)檢測(cè)的可靠性、速度提出了更高的要求,以往的手工檢測(cè)越來越多地被自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)取
42、代。,1) 超聲波檢測(cè)儀 超聲波檢測(cè)儀是超聲檢測(cè)的主體設(shè)備, 是專門用于超聲檢測(cè)的一種電子儀器。 (1) 超聲波檢測(cè)儀的作用。它的作用是產(chǎn)生電振蕩并加于換能器——探頭,激勵(lì)探頭發(fā)射超聲波,同時(shí)將探頭送回的電信號(hào)進(jìn)行放大處理后以一定方式顯示出來,從而得到被探測(cè)工件內(nèi)部有無缺陷及缺陷的位置和大小等信息。,圖6-17 A型顯示原理圖,② 按缺陷顯示方式分類:脈沖式檢測(cè)儀按回波信號(hào)的顯示方式又可分為A型顯示、B型顯示和C型顯示三種
43、類型。 A型顯示是一種波形顯示,屏幕的橫坐標(biāo)代表聲波的傳播時(shí)間(或距離),縱坐標(biāo)代表反射波的聲壓幅度。 可以認(rèn)為該方式顯示的是沿探頭發(fā)射聲束方向上一條線上的不同點(diǎn)的回波信息。圖6-17為A型顯示原理圖。圖中,T表示發(fā)射脈沖,F(xiàn)表示來自缺陷的回波,B表示底面回波。 B型顯示顯示的是試件的一個(gè)二維截面圖,屏幕縱坐標(biāo)代表探頭在探測(cè)面上沿一直線移動(dòng)掃查的位置坐標(biāo),橫坐標(biāo)是聲傳播的時(shí)間(或距離)。該方式可以直觀地顯示出被探工件任一縱
44、截面上缺陷的分布及缺陷的深度等信息。,圖6-18 B型顯示原理圖,C型顯示顯示的是試件的一個(gè)平面投影圖,探頭在試件表面做二維掃查,屏幕的二維坐標(biāo)對(duì)應(yīng)探頭的掃查位置。探頭在每一位置接收的信號(hào)幅度以光點(diǎn)輝度表示。該方式可形象地顯示工件內(nèi)部缺陷的平面投影圖像,但不能顯示缺陷的深度。圖6-19為C型顯示原理圖。,圖6-19 C型顯示原理圖,③ 按超聲波的通道分類:可分為單通道和多通道檢測(cè)儀。 ?、?按是否數(shù)字化分類:可分為數(shù)字式超聲波檢測(cè)儀
45、和模擬式超聲波檢測(cè)儀所謂數(shù)字式主要指發(fā)射、接收電路的參數(shù)控制和接收信號(hào)的處理、顯示均采用數(shù)字方式的儀器。 數(shù)字式超聲檢測(cè)儀是計(jì)算機(jī)技術(shù)和傳統(tǒng)超聲檢測(cè)技術(shù)相結(jié)合的產(chǎn)物。 它具有傳統(tǒng)模擬式檢測(cè)儀的基本功能,同時(shí)又增加了數(shù)字化帶來的先進(jìn)功能,即實(shí)現(xiàn)了儀器功能的精確、自動(dòng)控制,信號(hào)獲取和處理的數(shù)字化和自動(dòng)化,檢測(cè)結(jié)果的可記錄性和可再現(xiàn)性。 以上分類中,模擬式和數(shù)字式A型脈沖反射式超聲波檢測(cè)儀在工程實(shí)際中應(yīng)用最為廣泛,其型號(hào)有CTS-22、
46、CTS-21、 JTS-5、CST-3等。圖6-20為一組超聲波檢測(cè)儀的圖片。,圖6-20 超聲波檢測(cè)儀(a)、 (b)、 (c) 數(shù)字式超聲檢測(cè)儀; (d) 探傷小車,2) 超聲波探頭 (1) 超聲波探頭的作用。 超聲波探頭用于實(shí)現(xiàn)聲能和電能的互相轉(zhuǎn)換。它是利用壓電晶體的正、逆壓電效應(yīng)進(jìn)行換能的。探頭是組成檢測(cè)系統(tǒng)的最重要的組件,其性能的好壞直接影響超聲檢測(cè)的效果。 (2) 常用超聲波探頭的類型。超聲波檢測(cè)中由于被探
47、測(cè)工件的形狀和材質(zhì)、探測(cè)的目的、探測(cè)的條件不同, 因而要使用各種不同形式的探頭。其中最常用的是接觸式縱波直探頭、接觸式橫波斜探頭、雙晶探頭、水浸探頭與聚焦探頭等。一般橫波斜探頭的晶片為方形,縱波直探頭的晶片為圓形,而聚焦聲源的圓形晶片為聲透鏡。 所以聲場(chǎng)就有圓盤源聲場(chǎng)、聚焦聲源聲場(chǎng)和斜探頭發(fā)射的橫波聲場(chǎng)。 圖6-21為一組探頭的圖片。,圖6-21 各種探頭 (a) 縱波直探頭; (b) 橫波斜探頭; (c) 雙晶探頭,3) 試塊與耦合
48、劑 與一般的測(cè)量過程一樣,為了保證檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性與重復(fù)性、可比性,必須用一個(gè)具有已知固定特性的試樣(試塊)對(duì)檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)。這種按一定的用途設(shè)計(jì)制作的具有簡(jiǎn)單形狀人工反射體的試件即稱為試塊。超聲檢測(cè)用試塊通常分為兩種類型,即標(biāo)準(zhǔn)試塊(校準(zhǔn)試塊)和對(duì)比試塊(參考試塊)。,當(dāng)探頭和試件之間有一層空氣時(shí),超聲波的反射率幾乎為100%,即使很薄的一層空氣也可以阻止超聲波傳入試件。 因此,排除探頭和試件之間的空氣非常重要。耦合劑就是為了
49、改善探頭和試件間聲能的傳遞而加在探頭和檢測(cè)面之間的液體薄層。耦合劑可以填充探頭與試件間的空氣間隙,使超聲波能夠傳入試件,這是使用耦合劑的主要目的。除此之外, 耦合劑有潤(rùn)滑作用,可以減少探頭和試件之間的摩擦, 防止試件表面磨損探頭,并使探頭便于移動(dòng)。在液浸法檢測(cè)中, 通過液體實(shí)現(xiàn)耦合,此時(shí)液體也是耦合劑。常用的耦合劑有水、甘油、 變壓器油、化學(xué)漿糊等。,2. 超聲檢測(cè)方法 超聲檢測(cè)的方法很多,可按原理、波型和使用探頭的數(shù)目及探頭接觸
50、方式來分類。按原理分類,有脈沖反射法、穿透法和共振法;按顯示方式分類,有A型顯示、B型顯示和C型顯示;按波型分類,有縱波法、橫波法、表面波法和板波法;按探頭數(shù)目分類,有單探頭法、雙探頭法和多探頭法;按耦合方式分類,有接觸法和液浸法;按入射角度分類,有直射聲束法和斜射聲束法。,1) 穿透法 穿透法通常采用兩個(gè)探頭,分別放置在試件兩側(cè),一個(gè)將脈沖波發(fā)射到試件中,另一個(gè)接收穿透試件后的脈沖信號(hào), 依據(jù)脈沖波穿透試件后幅值的變化來判斷內(nèi)部
51、缺陷的情況(見圖6-22)。,圖6-22 直射聲束穿透法 (a) 無缺陷; (b) 有缺陷,2) 脈沖反射法 脈沖反射法是由超聲波探頭發(fā)射脈沖波到試件內(nèi)部,通過觀察來自內(nèi)部缺陷或試件底面的反射波的情況來對(duì)試件進(jìn)行檢測(cè)的方法。圖6-23 顯示了接觸法單探頭直射聲束脈沖反射法的基本原理。,圖6-23 接觸法單探頭直射聲束脈沖反射法(a) 無缺陷; (b) 有缺陷,3) 液浸法 液浸法是在探頭與試件之間填充一定厚度的液體
52、介質(zhì)作耦合劑,使聲波首先經(jīng)過液體耦合劑,而后再入射到試件中, 探頭與試件并不直接接觸。液浸法中,探頭角度可任意調(diào)整, 聲波的發(fā)射、接收也比較穩(wěn)定,便于實(shí)現(xiàn)檢測(cè)自動(dòng)化,大大提高了檢測(cè)速度。液浸法的缺點(diǎn)是當(dāng)耦合層較厚時(shí),聲能損失較大。另外,自動(dòng)化檢測(cè)還需要相應(yīng)的輔助設(shè)備,有時(shí)是復(fù)雜的機(jī)械設(shè)備和電子設(shè)備,它們對(duì)單一產(chǎn)品(或幾種產(chǎn)品)往往具有很高的檢測(cè)能力,但缺乏靈活性??傊?,液浸法與直接接觸法各有利弊,應(yīng)根據(jù)被檢對(duì)象的具體情況(幾何形狀的復(fù)雜
53、程度和產(chǎn)品的產(chǎn)量等), 選用不同的方法。,3. 超聲檢測(cè)通用技術(shù) 超聲檢測(cè)方法可采用多種檢測(cè)技術(shù),每種檢測(cè)技術(shù)在實(shí)施過程中,都有其需要考慮的特殊問題,其檢測(cè)過程也各有特點(diǎn)。 但各種超聲檢測(cè)技術(shù)又都存在著通用的技術(shù)問題。例如,檢測(cè)的過程都可歸納為以下幾個(gè)步驟: ?、?試件的準(zhǔn)備。 ?、?檢測(cè)條件的確定,包括超聲波檢測(cè)儀、探頭、試塊等的選擇。 ?、?檢測(cè)儀器的調(diào)整。 ?、?掃查。 ⑤ 缺陷的評(píng)定。
54、 ?、?結(jié)果記錄與報(bào)告的編寫。,1) 超聲波檢測(cè)儀的選擇 一般市場(chǎng)上出售的A型脈沖反射式超聲波檢測(cè)儀已具備一些基本功能,其基本性能參數(shù)(垂直線性、水平線性等)也能滿足通常超聲檢測(cè)的要求。對(duì)于給定的任務(wù),在選擇超聲波檢測(cè)儀時(shí),主要考慮的是該任務(wù)的特殊要求,可從以下幾方面進(jìn)行考慮: ?。?) 所需采用的超聲頻率特別高或特別低時(shí), 應(yīng)注意頻帶寬度。 ?。?) 對(duì)薄試件檢測(cè)和近表面缺陷檢測(cè)時(shí),應(yīng)注意發(fā)射脈沖是否可調(diào)為窄脈沖。
55、 ?。?) 檢測(cè)大厚度試件或高衰減材料時(shí),選擇發(fā)射功率大、 增益范圍大、電噪聲低的超聲波檢測(cè)儀,有助于提高穿透能力和小缺陷顯示能力。,(4) 對(duì)衰減小或厚度大的試件,選用重復(fù)頻率可調(diào)為較低數(shù)值的超聲波檢測(cè)儀,可避免幻象波的干擾。 (5) 室外現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)時(shí),應(yīng)選擇重量輕,熒光屏亮度好, 抗干擾能力強(qiáng)的便攜式超聲波檢測(cè)儀。 (6) 自動(dòng)快速掃查時(shí)應(yīng)選擇最高重復(fù)頻率高的超聲波檢測(cè)儀。,2) 探頭的選擇 (1) 頻率
56、。超聲波的頻率在很大程度上決定了其對(duì)缺陷的探測(cè)能力。頻率的選擇可以這樣考慮:對(duì)于小缺陷、 近表面缺陷或薄件的檢測(cè),可以選擇較高頻率;對(duì)于大厚度試件、高衰減材料,應(yīng)選擇較低頻率。在靈敏度滿足要求的情況下, 選擇寬帶探頭可提高分辨力和信噪比。針對(duì)具體對(duì)象,適用的頻率需在上述考慮當(dāng)中取得一個(gè)最佳的平衡,既要保證所需尺寸缺陷的檢出,并滿足分辨力的要求,也要保證在整個(gè)檢測(cè)范圍內(nèi)具有足夠的靈敏度與信噪比。,(2) 晶片尺寸。探頭晶片尺寸對(duì)檢測(cè)的影響
57、主要是通過其對(duì)聲場(chǎng)特性的影響體現(xiàn)出來的。多數(shù)情況下,檢測(cè)大厚度的試件時(shí),采用大直徑探頭較為有利;檢測(cè)厚度較小的試件時(shí), 則采用小直徑探頭較為合理。 應(yīng)根據(jù)具體情況, 選擇滿足檢測(cè)要求的探頭。,3) 耦合劑的選擇 選擇耦合劑主要考慮以下幾方面的要求: ?。?) 透聲性能好。 聲阻抗盡量和被探測(cè)材料的聲阻抗相近。 (2) 有足夠的潤(rùn)濕性、 適當(dāng)?shù)母街驼扯取? (3) 對(duì)試件無腐蝕,對(duì)人體無損害,對(duì)環(huán)境無污染。
58、 ?。?) 容易清除,不易變質(zhì), 價(jià)格便宜,來源方便。,6.1.6 超聲檢測(cè)技術(shù)的應(yīng)用 1. 典型構(gòu)件的超聲探傷技術(shù) 1) 鍛件檢測(cè) 鍛件的種類和規(guī)格很多,常見的類型有:餅盤件、環(huán)形件、軸類件和筒形件等。鍛件中的缺陷多呈現(xiàn)面積形或長(zhǎng)條形的特征。由于超聲檢測(cè)技術(shù)對(duì)面積型缺陷檢測(cè)最為有利,因此鍛件是超聲檢測(cè)實(shí)際應(yīng)用的主要對(duì)象。,(1) 鍛件中的常見缺陷。鍛件中的缺陷主要來源于兩個(gè)方面:材料鍛造過程中形成的縮孔、縮松、夾雜及
59、偏析等; 熱處理中產(chǎn)生的白點(diǎn)、裂紋和晶粒粗大等。 ?。?) 鍛件超聲檢測(cè)的特點(diǎn)。鍛件可采用接觸法或液浸法進(jìn)行檢測(cè)。鍛件的組織很細(xì),由此引起的聲波衰減和散射影響相對(duì)較小。因此,鍛件上有時(shí)可以應(yīng)用較高的檢測(cè)頻率(如10 MHz以上), 以滿足高分辨力檢測(cè)的要求, 以及實(shí)現(xiàn)較小尺寸缺陷檢測(cè)的目的。,圖6-24 軸類件徑向和軸向檢測(cè)示意圖,2) 鑄件檢測(cè) 鑄件具有組織不均勻、組織不致密、表面粗糙和形狀復(fù)雜等特點(diǎn),因此常見缺陷有孔洞類
60、(包括縮孔、縮松、疏松、 氣孔等)、裂紋冷隔類(冷裂、熱裂、白帶、冷隔和熱處理裂紋)、夾雜類以及成分類(如偏析)等。 鑄件的上述特點(diǎn),形成了鑄件超聲檢測(cè)的特殊性和局限性。檢測(cè)時(shí)一般選用較低的超聲頻率,如0.5~2 MHz,因此檢測(cè)靈敏度也低,雜波干擾嚴(yán)重,缺陷檢測(cè)要求較低。 鑄件檢測(cè)常采用的超聲檢測(cè)方法有直接接觸法、 液浸法、 反射法和底波衰減法。,3) 焊接接頭檢測(cè) 許多金屬結(jié)構(gòu)件都采用焊接的方法制造。超聲檢測(cè)是
61、對(duì)焊接接頭質(zhì)量進(jìn)行評(píng)價(jià)的重要檢測(cè)手段之一。焊縫形式有對(duì)接、搭接、T型接、角接等,如圖6-25所示。焊縫超聲檢測(cè)的常見缺陷有氣孔、夾渣、未熔合、未焊透和焊接裂紋等。 焊縫探傷一般采用斜射橫波接觸法,在焊縫兩側(cè)進(jìn)行掃查。探頭頻率通常為2.5~5.0 MHz。發(fā)現(xiàn)缺陷后,即可采用三角法對(duì)其進(jìn)行定位計(jì)算。儀器靈敏度的調(diào)整和探頭性能測(cè)試應(yīng)在相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)試塊或自制試塊上進(jìn)行。,圖6-25 焊接接頭形式(a) 對(duì)接接頭; (b) 搭接接頭; (
62、c) T型接頭; (d) 角接接頭,4) 復(fù)合材料檢測(cè) 復(fù)合材料是由兩種或多種性質(zhì)不同的材料軋制或粘合在一起制成的。其粘合質(zhì)量的檢測(cè)主要有接觸式脈沖反射法、 脈沖穿透法和共振法。 脈沖反射法適用于復(fù)合材料是由兩層材料復(fù)合而成,粘合層中的分層多數(shù)與板材表面平行的情況。用縱波檢測(cè)時(shí), 粘合質(zhì)量好的,產(chǎn)生的界面波會(huì)很低,而底波幅度會(huì)較高; 當(dāng)粘合不良時(shí),則相反。,圖6-26 復(fù)合材料的C掃描圖,5) 非金屬材料的檢測(cè)
63、圖 超聲波在非金屬材料(木材、混凝土、有機(jī)玻璃、陶瓷、橡膠、塑料、砂輪、炸藥藥餅等)中的衰減一般比在金屬中的大,多采用低頻率檢測(cè)。 一般為20~200 kHz,也有用2~5 MHz 的。為了獲得較窄的聲束,需采用晶片尺寸較大的探頭。 塑料零件的探測(cè)一般采用縱波脈沖反射法;陶瓷材料可用縱波和橫波探測(cè); 橡膠檢測(cè)頻率較低,可用穿透法檢測(cè)。,,6.2 射線檢測(cè),6.2.1 射線檢測(cè)的物理基礎(chǔ) 1. 射線的種類和頻譜 在射
64、線檢測(cè)中應(yīng)用的射線主要是X射線、γ射線和中子射線。X射線和γ射線屬于電磁輻射,而中子射線是中子束流。 1) X射線 X射線又稱倫琴射線,是射線檢測(cè)領(lǐng)域中應(yīng)用最廣泛的一種射線,波長(zhǎng)范圍約為0.0006~100 nm(見圖6-27)。 在X射線檢測(cè)中常用的波長(zhǎng)范圍為0.001~0.1 nm。X射線的頻率范圍約為3×109~5×1014 MHz。,圖6-27 射線的波長(zhǎng)分布,2) γ射線 γ射線是一種
65、波長(zhǎng)比X射線更短的射線,波長(zhǎng)范圍約為0.0003~0.1 nm(見圖6-27),頻率范圍約為3×1012~1×1015MHz。 工業(yè)上廣泛采用人工同位素產(chǎn)生γ射線。由于γ射線的波長(zhǎng)比X射線更短,所以具有更大的穿透力。在無損檢測(cè)中γ射線常被用來對(duì)厚度較大和大型整體工件進(jìn)行射線照相。,3) 中子射線 中子是構(gòu)成原子核的基本粒子。中子射線是由某些物質(zhì)的原子在裂變過程中逸出高速中子所產(chǎn)生的。工業(yè)上常用人工同
66、位素、加速器、反應(yīng)堆來產(chǎn)生中子射線。在無損檢測(cè)中中子射線常被用來對(duì)某些特殊部件(如放射性核燃料元件)進(jìn)行射線照相。,圖6-28 鎢與鉬的X射線譜,2. X射線的產(chǎn)生 X射線是一種波長(zhǎng)比紫外線還短的電磁波,它具有光的特性,例如具有反射、折射、干涉、衍射、散射和偏振等現(xiàn)象。 它能使一些結(jié)晶物體發(fā)生熒光、氣體電離和膠片感光。 X射線通常是將高速運(yùn)動(dòng)的電子作用到金屬靶(一般是重金屬)上而產(chǎn)生的。圖6-28是在35 kV的電壓下操作
67、時(shí),鎢靶與鉬靶產(chǎn)生的典型的X射線譜。鎢靶發(fā)射的是連續(xù)光譜,而鉬靶除發(fā)射連續(xù)光譜之外還疊加了兩條特征光譜,稱為標(biāo)識(shí)X射線,即Kα線和Kβ線。若要得到鎢的Kα線和Kβ線,則電壓必須加到70 kV以上。,1) 連續(xù)X射線 根據(jù)電動(dòng)力學(xué)理論,具有加速度的帶電粒子將產(chǎn)生電磁輻射。在X射線管中,高壓電場(chǎng)加速了陰極電子,當(dāng)具有很大動(dòng)能的電子達(dá)到陽極表面時(shí),由于猝然停止,它所具有的動(dòng)能必定轉(zhuǎn)變?yōu)殡姶挪ㄝ椛涑鋈?。由于電子被停止的時(shí)間和條件不同, 所
68、以輻射的電磁波具有連續(xù)變化的波長(zhǎng)。 在任何X射線管中,只要電壓達(dá)到一定數(shù)值,連續(xù)X射線總是存在的。連續(xù)X射線具有以下特點(diǎn): (1) 連續(xù)X射線的波長(zhǎng)與陽極的材料無關(guān)。,(2) 連續(xù)X射線的波長(zhǎng)在長(zhǎng)波方向,理論上可以擴(kuò)展到λ=∞;而在短波方向,實(shí)驗(yàn)證明具有最短波長(zhǎng)λmin(見圖6-28), 且有,(6-29),式中:U為X射線管的管電壓,單位為kV。,(3) X射線管的效率為,(6-30),式中:P=αZIU2為連續(xù)X射
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