艦船電子對(duì)抗系統(tǒng)的內(nèi)外場(chǎng)一體化測(cè)試方法

1、艦船電子對(duì)抗系統(tǒng)的內(nèi)外場(chǎng)一體化測(cè)試方法艦船電子對(duì)抗系統(tǒng)的內(nèi)外場(chǎng)一體化測(cè)試方法田益明本文針對(duì)艦船電子對(duì)抗系統(tǒng)測(cè)試中存在的問(wèn)題，首先對(duì)外場(chǎng)測(cè)試、內(nèi)場(chǎng)半實(shí)物仿真測(cè)試和計(jì)算機(jī)數(shù)字仿真測(cè)試的優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行了對(duì)比分析，然后探索性的設(shè)計(jì)了艦船電子對(duì)抗系統(tǒng)內(nèi)外場(chǎng)一體化測(cè)試的具體步驟，最后對(duì)艦船電子對(duì)抗系統(tǒng)內(nèi)外場(chǎng)一體化測(cè)試的各項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行了分別闡述?！娟P(guān)鍵詞】艦船電子對(duì)抗系統(tǒng)內(nèi)外場(chǎng)一體化外場(chǎng)測(cè)試半實(shí)物仿真測(cè)試數(shù)字仿真測(cè)試1測(cè)試方法的比較1.1數(shù)字仿真測(cè)試計(jì)

2、算機(jī)數(shù)字仿真測(cè)試主要借助計(jì)算機(jī)程序，通過(guò)模擬一個(gè)系統(tǒng)的使用邏輯、過(guò)程、規(guī)則、技術(shù)和方法來(lái)代表這個(gè)系統(tǒng)，將它置身于計(jì)算機(jī)模擬的威脅環(huán)境中進(jìn)行性能分析。計(jì)算機(jī)數(shù)字仿真測(cè)試突出的優(yōu)點(diǎn)就是效費(fèi)比高、保密性強(qiáng)，其不足主要在于測(cè)試“風(fēng)險(xiǎn)”大，不可能全面描述系統(tǒng)的能力，可信度低，如果沒(méi)有經(jīng)過(guò)檢驗(yàn)、證實(shí)和認(rèn)可的數(shù)學(xué)模型和仿真，可信度問(wèn)題就無(wú)法解決。1.2內(nèi)場(chǎng)半實(shí)物仿真測(cè)試內(nèi)場(chǎng)半實(shí)物仿真測(cè)試工具是一種安全的室內(nèi)設(shè)施，它用硬件和軟件來(lái)仿真電子對(duì)抗系統(tǒng)的電磁

3、性能，由計(jì)算機(jī)控制的測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)生典型測(cè)試環(huán)境中的真實(shí)射頻信號(hào)，把被試系統(tǒng)放置在內(nèi)場(chǎng)半實(shí)物仿真測(cè)試環(huán)境中來(lái)開(kāi)展測(cè)試。內(nèi)場(chǎng)半實(shí)物仿真測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)在于效費(fèi)在對(duì)艦船電子對(duì)抗系統(tǒng)的干擾能力測(cè)試中，由于艦船反射面積很大，測(cè)試用彈消耗量較多，在同等成本下限制了測(cè)試樣本的數(shù)量。通過(guò)在測(cè)試前精確測(cè)量艦船各狀態(tài)下的反射面積全向數(shù)據(jù)，運(yùn)用數(shù)字實(shí)體建模仿真的方法對(duì)受干擾效果進(jìn)行建模仿真運(yùn)算，得出干擾全方位成功率仿真曲線。在外場(chǎng)測(cè)試方案設(shè)計(jì)過(guò)程中，依據(jù)內(nèi)場(chǎng)仿真結(jié)果

4、，在滿足置信度的測(cè)試樣本數(shù)量前提下，選取典型角度進(jìn)行外場(chǎng)測(cè)試。3.2測(cè)試環(huán)境建模測(cè)試環(huán)境建模主要針對(duì)外場(chǎng)測(cè)試中對(duì)被試產(chǎn)品有影響的實(shí)際環(huán)境進(jìn)行建模，這些實(shí)際環(huán)境包括各種各樣的空間環(huán)境、地形環(huán)境、大氣環(huán)境、海洋環(huán)境和電磁環(huán)境等。對(duì)測(cè)試環(huán)境建模的原理與測(cè)試資源實(shí)體建模的原理相似，首先分析真實(shí)環(huán)境的內(nèi)部物理機(jī)理，然后建立數(shù)學(xué)模型，最后通過(guò)軟件或者各種硬件實(shí)現(xiàn)這些數(shù)學(xué)模型。軟件實(shí)現(xiàn)的環(huán)境稱(chēng)為虛擬環(huán)境模型，各種硬件實(shí)現(xiàn)的環(huán)境稱(chēng)為模擬器。3.3測(cè)試數(shù)