拓?fù)浣^緣體Bi2Se3的異質(zhì)結(jié)的制備及其電極接觸性能研究.pdf

1、自從拓?fù)浣^緣體被預(yù)言及制備以來(lái)，其奇異的物理特性就一直受到科學(xué)家的巨大的關(guān)注，并且引發(fā)了極高的研究熱潮。經(jīng)過(guò)多年來(lái)科學(xué)家的研究和發(fā)展，第二代三維拓?fù)浣^緣體Bi2Se3因?yàn)槠浔砻鎯H有一個(gè)狄拉克錐等一系列新穎的物理特性，為拓?fù)浣^緣體的研究翻開(kāi)了新的篇章。大量的科學(xué)研究表明，Bi2Se3摻雜磁性元素會(huì)改變其運(yùn)輸特性，而當(dāng)制備的Bi2Se3薄膜樣品厚度在7nm以內(nèi)時(shí)，它的上、下表面的表面態(tài)會(huì)相互作用、相互影響，引發(fā)更奇異的電運(yùn)輸特性。
　

2、　因此，本實(shí)驗(yàn)采用分子束外延(MBE)法制備拓?fù)浣^緣體Bi2Se3異質(zhì)結(jié)樣品，通過(guò)比較Bi2Se3異質(zhì)結(jié)與Bi2Se3單晶的電學(xué)性質(zhì)，來(lái)分析Bi2Se3異質(zhì)結(jié)上下表面的相互影響作用。由于Bi2Se3單晶表面易出現(xiàn)各種缺陷位，因而選取不同條件分別制備樣品，再通過(guò)XRD和SEM等測(cè)試工具分析，優(yōu)化制備參數(shù)，隨后利用優(yōu)化的參數(shù)制備出Bi2Se3異質(zhì)結(jié)樣品。而測(cè)試Bi2Se3單晶及其異質(zhì)結(jié)樣品需要選取接觸特性優(yōu)質(zhì)的金屬靶材做為電極，規(guī)避因接觸不

3、良而可能出現(xiàn)較大的肖特基勢(shì)壘高度，因此選取不同功函數(shù)的金屬靶材制備成電極蒸鍍?cè)贐i2Se3單晶表面，通過(guò)測(cè)試T-I曲線分析得出接觸性能最佳的金屬靶材，再以此金屬靶材為電極靶材蒸鍍?cè)贐i2Se3單晶及其異質(zhì)結(jié)樣品表面，測(cè)試并分析比較它們的電學(xué)性質(zhì)。
　　最終得出數(shù)據(jù)與圖譜表明，Bi與Se的流量比為1∶10時(shí)制備參數(shù)最優(yōu)，金屬In最適合作為靶材制備電極，而B(niǎo)i2Se3異質(zhì)結(jié)樣品的磁阻高于Bi2Se3單晶，且體系內(nèi)載流子發(fā)生奇異的變化。