內(nèi)存容限測(cè)試的分析及優(yōu)化方案.pdf

1、隨著計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的運(yùn)算速度的日新月異，如何更好地評(píng)估信號(hào)數(shù)量眾多、時(shí)序復(fù)雜的內(nèi)存總線(xiàn)越來(lái)越成為主板廠商亟待解決的問(wèn)題。本文提出并實(shí)現(xiàn)了一種內(nèi)存容限測(cè)試系統(tǒng)的優(yōu)化方案，較好地解決了現(xiàn)有測(cè)試系統(tǒng)在測(cè)試時(shí)間、測(cè)試準(zhǔn)確度和測(cè)試可擴(kuò)展性等方面的問(wèn)題。
　　現(xiàn)有的容限測(cè)試系統(tǒng)，類(lèi)似于對(duì)內(nèi)存條本身的評(píng)估一樣，采用了RST Pro/Pro2 card測(cè)試系統(tǒng)中的所有物理內(nèi)存地址空間，導(dǎo)致壓力測(cè)試的時(shí)間過(guò)長(zhǎng)。其采用的單一步進(jìn)的電壓調(diào)節(jié)策略，不能較好地

2、解決電壓調(diào)節(jié)次數(shù)和測(cè)試精度的矛盾，既增加了容限測(cè)試的測(cè)試用時(shí)，測(cè)試精度和穩(wěn)定性又需要提升。同時(shí)現(xiàn)有測(cè)試系統(tǒng)還受限于主機(jī)系統(tǒng)與測(cè)試主板的串口連接，并行測(cè)試的主機(jī)數(shù)量有限，也無(wú)法實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程控制和遠(yuǎn)程調(diào)試等較高級(jí)的操作。
　　本文實(shí)現(xiàn)的優(yōu)化方案，采用了邊界定位的策略，利用內(nèi)存映射將最易出錯(cuò)的邊界區(qū)域作為目標(biāo)測(cè)試區(qū)域，通過(guò)減少內(nèi)存測(cè)試范圍大大降低了壓力測(cè)試的時(shí)間；多階段的電壓調(diào)節(jié)策略結(jié)合多處理器核測(cè)試技術(shù)既減少了電壓調(diào)節(jié)次數(shù)又提高了測(cè)試精度