EPON NT板的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)與軟硬件實(shí)現(xiàn).pdf_第1頁(yè)
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1、隨著光進(jìn)銅退,EPON接入技術(shù)正在普及。隨之而來(lái)的批量生產(chǎn)測(cè)試也成為通信設(shè)備商確保產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵。不僅要保證測(cè)試覆蓋面,還要考慮到生產(chǎn)測(cè)試的效率、產(chǎn)能問(wèn)題。
   本文針對(duì)EPON NT板的生產(chǎn)測(cè)試的需求設(shè)計(jì)了一套自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)并介紹了其軟硬件的實(shí)現(xiàn)過(guò)程。整個(gè)系統(tǒng)包括硬件平臺(tái)和軟件平臺(tái),硬件平臺(tái)將提供測(cè)試所需的激勵(lì),同時(shí)檢測(cè)輸出;軟件平臺(tái)使用虛擬儀器技術(shù)實(shí)現(xiàn)硬件平臺(tái)的控制,是整個(gè)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的關(guān)鍵。
   文章首先根據(jù)E

2、PON NT板的特性制定相應(yīng)的測(cè)試策略。包括其硬件測(cè)試策略和系統(tǒng)測(cè)試策略。
   硬件測(cè)試策略是根據(jù)EPON NT板的硬件功能制定測(cè)試方案。NT板本身有一個(gè)嵌入式測(cè)試程序OFLT,可以通過(guò)串口發(fā)測(cè)試命令測(cè)試NT板子內(nèi)部硬件。故硬件測(cè)試主要關(guān)心NT板的外部接口。本文將設(shè)計(jì)一塊硬件測(cè)試板。計(jì)算機(jī)控制硬件測(cè)試板來(lái)對(duì)NT板的外部接口進(jìn)行測(cè)試。考慮到自動(dòng)測(cè)試設(shè)備發(fā)展至今,通用性已成為基本特性,硬件測(cè)試板將分成子母板結(jié)構(gòu)。子板作為模塊化部分

3、可以用到別的測(cè)試設(shè)備中去,母板提供NT板的物理測(cè)試接口和一些測(cè)試功能擴(kuò)展??紤]到測(cè)試效率問(wèn)題,將采用并行測(cè)試。計(jì)算機(jī)控制多塊硬件測(cè)試板同時(shí)對(duì)多塊NT板進(jìn)行測(cè)試。另外硬件測(cè)試板和計(jì)算機(jī)的通信方式也是本文研究的一個(gè)重點(diǎn)。而USB具有速度快、設(shè)備安裝和配置容易、易于擴(kuò)展、可采用總線供電和支持熱插拔等優(yōu)點(diǎn)。本文選擇USB作為硬件測(cè)試板和計(jì)算機(jī)通信方式。計(jì)算機(jī)將通過(guò)USB接口控制硬件測(cè)試設(shè)備。對(duì)于USB芯片選擇,本文比較了目前常用的幾種USB芯片

4、的特點(diǎn),選用FT245BM作為USB接口芯片,并結(jié)合使用Altrea的FPGA EP2C5對(duì)硬件測(cè)試板上的資源進(jìn)行控制。測(cè)試軟件部分本文將使用TestStand+Labwindows/CVI開(kāi)發(fā)測(cè)試設(shè)備的控制程序,包括FT245BM上位機(jī)軟件部分和整個(gè)測(cè)試管理部分。軟件設(shè)計(jì)將使用TestStand直接調(diào)用FT245BM供應(yīng)商提供的動(dòng)態(tài)鏈接庫(kù)里的函數(shù),同時(shí)還將使用Labwindows/CVI設(shè)計(jì)一個(gè)串口操作程序?qū)T板的OFLT測(cè)試程序進(jìn)

5、行測(cè)試。
   系統(tǒng)測(cè)試策略需要根據(jù)EPON接入網(wǎng)的網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)搭建一套系統(tǒng)環(huán)境。完成EPON 業(yè)務(wù)的配置之后使用相關(guān)的儀器Smartbits600B進(jìn)行流量測(cè)試,測(cè)試目的主要就是看丟不丟包。測(cè)試軟件部分同樣使用Labwindows/CVI+TestStand開(kāi)發(fā)流量測(cè)試儀器Smartbits600B的控制程序。先使用TestStand調(diào)用基于SmartFlow的測(cè)試腳本,再用Labwindows/CVI開(kāi)發(fā)文本分析程序來(lái)解析運(yùn)行腳

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