StrongARM處理器的測試結(jié)構(gòu)的設(shè)計.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、集成電路的設(shè)計、制造和測試是集成電路產(chǎn)業(yè)鏈的三個主要環(huán)節(jié)，隨著芯片集成度的大大提高，利用傳統(tǒng)的方法進(jìn)行測試也變得越來越困難，這就需要我們在集成電路設(shè)計階段就為測試做準(zhǔn)備，這樣的結(jié)構(gòu)就是可測性設(shè)計。 StrongARM處理器是一款與ARM系列處理器兼容的嵌入式處理器，本文針對StrongARM處理器的結(jié)構(gòu)特點，研究了內(nèi)部掃描路徑、邊界掃描、內(nèi)建自測試等可測性設(shè)計技術(shù)，并設(shè)計完成了嵌入式存儲器的內(nèi)建自測試控制器和整個芯片的邊界掃描控

2、制器。 掃描測試是一種應(yīng)用較廣的結(jié)構(gòu)化可測性設(shè)計方法，它通過對掃描觸發(fā)器的修改，在芯片內(nèi)部構(gòu)成掃描路徑，大大提高了電路內(nèi)部節(jié)點的可觀察性和可控制性。本文采用了多路選擇器型掃描單元和全掃描策略對StrongARM處理器進(jìn)行內(nèi)部掃描設(shè)計。 內(nèi)建自測試(BIST)結(jié)構(gòu)可以在電路內(nèi)部建立測試生成、施加、分析和測試控制結(jié)構(gòu)，使得電路能夠?qū)ψ陨磉M(jìn)行測試。本文針對StrongARM處理器內(nèi)部嵌入式SRAM的結(jié)構(gòu)特點，設(shè)計完成了存儲器的

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