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文檔簡介
1、,r一竺刪設計螂刪一學科:微電子學與固體電子學一!生!!!!一一作者姓名:鄭曉亮指導教師:余寧梅教授答辯日期:簽名:簽名:摘要伴隨著現(xiàn)代大規(guī)模集成電路制造工藝的快速發(fā)展,芯片的測試和后端設計質量已經(jīng)成為制約芯片良率和設計成本的主要因素。設計工程師既要面對芯片制造過程中可能產生的物理缺陷,又要面對后端設計過程中不確定因素,給芯片的測試和設計帶來了挑戰(zhàn)??蓽y性設計(DesignForTestability,DFT)作為檢驗芯片是否合格的有效
2、手段已在現(xiàn)今芯片設計中扮演著不可或缺的角色。GPS基帶芯片中采用內建自測試技術和掃描技術分別對系統(tǒng)中RAM和一般邏輯進行測試。通過整合內建自測試邏輯,實現(xiàn)RAM邏輯的內建掃描測試;通過采用提高故障覆蓋率的策略,如端口復用、旁路邏輯、門控可測試設計、RAM陰影邏輯測試、異步邏輯測試等,使整個設計的掃描測試覆蓋率達到了9594%,完成了對芯片絕大多數(shù)邏輯測試的目的。一GPS基帶芯片的后端設計基于SM工c180nmLogic工藝,實現(xiàn)頻率80
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